Berndt, MichaelMichaelBerndtCarl, DanielDanielCarlFratz, MarkusMarkusFratzSteiert, MatthiasMatthiasSteiertZeiser, RoderichRoderichZeiser2022-03-042022-03-042013https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/234536Mit Hilfe von FE-Simulationen lassen sich zuverlässig Aussagen über Einflüsse und daraus resultierende Belastungen auf ein System treffen. Die Verifikation der Simulationen erfolgt durch optische Messsysteme. Hierzu wurden ein ESPI- und ein DIC-System etabliert.de3D-MesstechnikVerformung von Mikrosystemen bei hohen Temperaturenjournal article