Becker, B.B.BeckerHellebrand, S.S.HellebrandPolian, I.I.PolianStraube, B.B.StraubeWunderlich, H.-J.H.-J.Wunderlich2022-03-032022-03-032006https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/21225710.1524/itit.2006.48.5.304de621400DFG-Projekt RealTest - Test und Zuverlässigkeit nanoelektronischer SystemeDFG-Project - Test and reliability of nano-electronic systemsjournal article