Baalmann, A.A.BaalmannGünther, B.B.Günther2022-03-022022-03-021988https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/175012Bei der Charakterisierung von Oberflächen hat die Oberflächenanalytik inzwischen einen hohen Stellenwert. Ohne solche Methoden wie AES, XPS, SIMS ist eine gezielte Untersuchung von Oberflächen- und Korngrenzensegregationen sowie von Festkörper-Gas-Reaktionen zum Beispiel bei der Heizgaskorrosion, bei katalytischen Prozessen und bei der Absorption nicht möglich. Einige der wichtigsten analytischen Methoden (AES, ESCA, SIMS, RBS) werden hinsichtlich ihrer prinzipiellen Möglichkeiten und Grenzen bei der Lösung von Werkstofffragen dargestellt.deAnalytikElektronenspektroskopieMassenspektrometrieOberfläche620660671338journal article