Pink, E.E.PinkTrupke, ThorstenThorstenTrupkeBardos, R.A.R.A.BardosAbbott, Malcolm D.Malcolm D.AbbottAugarten, YaelYaelAugartenKontermann, StefanStefanKontermann2022-03-102022-03-102007https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/356309en621Fast series resistance imaging using photoluminescenceconference paper