Bonitz, F.F.BonitzGebhardt, W.W.GebhardtWoll, H.H.Woll2022-03-022022-03-021983https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/171755dephased arrayPrüfkopf(elektronisch steuerbar)US-Prüfung620658670Ertuechtigung der US-Pruefung mit elektronisch steuerbaren PruefkoepfenPhased Arraysbook article