Lanza, Mario2022-03-022022-03-022017978-3-527-34091-0978-3-527-69977-33-527-34091-2978-3-527-69978-0978-3-527-69979-7978-3-527-69980-3https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/161852Conductive atomic force microscopy. Applications in nanomaterials