Under CopyrightWalle, GünterGünterWalleStumm, C.C.StummValeske, BerndBerndValeskeNetzelmann, UdoUdoNetzelmann2022-03-1121.5.20152011https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/37423710.24406/publica-fhg-374237Die induktiv angeregte Thermografie eignet sich sehr gut zur Oberflächenrissprüfung ferromagnetischer und austenitischer Stähle und besitzt das Potenzial, zur vollautomatischen Prüfung von Bauteilen in der industriellen Qualitätssicherung eingesetzt zu werden. Der vorliegende Beitrag befasst sich mit neueren Entwicklungen der Prüftechnik mit dem Ziel, auch verdeckte, unter der Oberfläche liegende, rissartige Fehlstellen nachweisen zu können. Es werden die physikalischen Mechanismen des Fehlernachweises und die Bedingungen behandelt, unter denen solche Fehlstellen nachweisbar sind.deThermografieOberflächenrissprüfungQualitätssicherungPrüftechnik620658670Nachweis verdeckter rissartiger Fehlstellen mittels induktiv angeregter Thermografieconference paper