Schmitt, RobertRobertSchmittMallmann, GuilhermeGuilhermeMallmannDepiereux, FrankFrankDepiereux2022-03-042022-03-042010https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/223933Vorgestellt wird ein lichtwellenleiterbasiertes Messsystem für die hochgenaue Formmessung, das die Messung in eingeschränkten Bauräumen wie Bohrungen oder an empfindlichen Bauteiloberflächen ermöglicht. Es basiert auf den Prinzip der kurzkohärenten Interferometrie und besteht aus einem faserbasierten und einem Freistrahl-Interferometer. Der Messaufbau wird beschrieben und es werden Anwendungsbeispiele für die hochgenaue faseroptische Formmessung vorgestellt wie Rundheitsprüfung in Mikrobohrung, Rundheits- und Rundlaufprüfung von Zahnrädern, Qualitätsprüfung in Ventilen und Düsenkörpern, Rundheits- und Rundlaufprüfung an strukturierten Wellen und an strukturierten Schleifscheiben.deFasersensorikdistance measurementfiber-based low-coherence interferometryminiaturization658670600Tiefer Einblick in versteckte Ortejournal article