Fritzsche, C.C.FritzscheWagner, J.J.Wagner2022-03-022022-03-021988https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/17512510.1063/1.341929enGaAsIonenimplantationRamanstreuung621667530Raman study of Si plus -implanted GaAs.Ramanspektroskopische Untersuchung an Si plus implantiertem GaAsjournal article