Driel, Willem Dirk van2024-08-152024-08-152024978-3-031-59360-4978-3-031-59361-1978-3-031-59362-8978-3-031-59363-5https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/47321510.1007/978-3-031-59361-1enRecent Advances in Microelectronics Reliability