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Fraunhofer-Gesellschaft
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Title

Verfahren und Auswertevorrichtung zur Ermittlung der Lage einer in einem zu untersuchenden Objekt befindlichen Struktur mittels Röntgencomputertomografie

Date Issued
2010
Author(s)
Oeckl, S.
Schön, W.
Schnell, H.
Müller, G.
Papadopoulos, I.
Patent No
102010043226
Abstract
Bei einem Verfahren und einer Auswertevorrichtung zur Ermittlung der Lage einer in einem zu untersuchenden Objekt befindlichen Struktur mittels Röntgencomputertomografie wird aus einem Volumendatensatz des Objektes ein Schnittdatensatz ermittelt, der das Objekt in einer Schnittebene abbildet. Der Schnittdatensatz wird zu einem Binärdatensatz binarisiert, in dem die die Struktur abbildenden Strukturvoxel (s) und die eine Objektoberfläche abbildenden Oberflächenvoxel (f) ermittelt werden. Zur Lagebestimmung wird ein Abstandsdatensatz (A) derart erzeugt, dass jedem Abstandsvoxel (a) des Abstandsdatensatzes (A) ein Abstandswert (w) zugeordnet wird, der den kleinsten Abstand des jeweiligen Abstandsvoxels (a) zu den Oberflächenvoxeln (f) charakterisiert.; Anschliessend werden die den Strukturvoxeln (s) entsprechenden Abstandsvoxel (a) ermittelt und die zugehörigen Abstandswerte (w) ausgewertet. Durch Ermittlung eines Minimalwertes der Abstandswerte (w) kann beispielsweise der kleinste Abstand eines Kühlkanals zu der Oberfläche eines Kolbens bestimmt werden.
In a method and an evaluation device for determining the position of a structure located in an object to be examined by means of X-ray computer tomography, a cutting data record is determined from a volume data record of the object, said cutting data record representing the object in a cutting plane. The cutting data record is binarized to form a binary data record in which the structure voxels (s) representing the structure and the surface voxels (f) representing an object surface are determined. In order to determine the position, a distance data record (A) is generated such that each distance voxel (a) of the distance data record (A) is associated with a distance value (w) which characterizes the smallest distance of the respective distance voxel (a) to the surface voxels (f). Subsequently, the distance voxels (a) corresponding to the structure voxels (s) are determined and the associated distance values (w) are evaluated. By determining a minimum value of the distance values (w), for example the smallest distance of a cooling duct to the surface of a piston can be determined.
Language
Deutsch
Institute
IIS
Link
http://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?DB=worldwide.espacenet.com&locale=en_EP&FT=D&CC=DE&NR=102010043226A
Patenprio
DE 102010043226 A
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