Verfahren und Vorrichtung zur Vermessung der Kontur einer Objektoberflaeche unter Einsatz elektromagnetischer Strahlung

Zur Vermessung von Objektoberflaechen mit elektromagnetischer Strahlung wird oftmals das Streifenprojektionsverfahren eingesetzt. Die dabei zu verarbeitende Datenmenge ist in der Regel enorm gross. Zudem ist man auf eine diffus reflektierende Oberflaeche angewiesen. Mit dem neuen Verfahren der neuen Vorrichtung lassen sich auch nicht oder schwach diffus reflektierende Oberflaechen einfach und schnell vermessen. Es wird mittels eines Hologramms oder mittels zweier sich schneidender Strahlungsbuendel (6, 7) eine Messlinie im Raum erzeugt. Die Messlinie wird relativ zur zu vermessenden Objektoberflaeche bewegt. Die Schnittpunkte (14, 15) der Messlinie mit der Objektoberflaeche werden mittels einer Kamera (4) und einer Bildverarbeitungseinheit festgestellt. Aus den Raumkoordinaten einer Vielzahl von Schnittpunkten (14, 15) koennen Informationen ueber die Kontur der Objektoberflaeche gewonnen werden. Vermessung von Objektoberflaechen.

DE 19955709 A UPAB: 20010719 NOVELTY - The surface contour measuring method uses an electromagnetic beam for providing at least one measuring line with given spatial coordinates relative to a reference point, moved across the surface of the object (8), with the image of the measuring line provided by a digital camera (4). The latter is coupled to an image processor, used for determining the coordinates of the points of intersection of the measuring line with the object surface, for calculation of the surface contour. DETAILED DESCRIPTION - An INDEPENDENT CLAIM is also included for a measuring device for the surface contour of a 3-dimensional object. USE - The method is used for measuring the surface contour of a 3-dimensional object, e.g. a shaft. ADVANTAGE - The method allows the surface contour of a non-reflective surface to be determined.