Rasterelektronenmikroskopie - eine "Querschnitts"-Technologie mit Potenzial
Titel Supplements
Mit weiterentwickelten REM-Techniken Beschichtungen in ihren Details erfassen
Abstract
Mit neuen Techniken lässt sich die Nutzung der klassischen Rasterelektronenmikroskopie zur Analyse organischer Beschichtungen enorm erweitern. Insbesondere eröffnet sich damit der bisher nur schwierig zugängliche Größenbereich der nanoskaligen Beschichtungsbestandteile.
