Aufbau eines Charakterisierungsmessplatzes für ein digitales OLED-Mikrodisplay

Im Rahmen des EU-Verbundprojektes HYPOLED wurde unter Anderem ein Mikrodisplay entwickelt und derzeit als Prototyp gefertigt, welches aufbauend auf einer CMOS-Struktur, eine organische Halbleiterschicht und eine TFT-Schicht zur Darstellung verwendet. Die ersten Demonstratoren sollen nun mit Hilfe eines bereits existierenden Charakterisierungsmessplatzes bewertet werden, welcher jedoch für Displays aus einem anderen Projekt entwickelt wurde. Ziel der Arbeit ist es, eine geeignete Hard- und Softwarestruktur aufzubauen, sowie den Messplatz anzupassen, um damit HYPOLED-Displays zu testen. Für die Umsetzung wurde sich für eine Entwicklung einer Ansteuerungskarte entschieden, welche Videosignale von einer handelsüblichen PC-Grafikkarte in den digitalen 24bitparallel-Standard wandelt, womit die HYPOLED-Displays angesteuert werden können. Die seriellen Register zur Konfiguration der Anzeige werden über einen Mikrocontroller beschrieben und sind über eine USB-Schnittstelle vom PC aus einzustellen.