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  • Publication
    OCM 2023, Optical Characterization of Materials. Conference Proceedings
    (KIT Scientific Publishing, 2023) ; ;
    The state of the art in the optical characterization of materials is advancing rapidly. New insights have been gained into the theoretical foundations of this research and exciting developments have been made in practice, driven by new applications and innovative sensor technologies that are constantly evolving. The great success of past conferences proves the necessity of a platform for presentation, discussion and evaluation of the latest research results in this interdisciplinary field.
  • Publication
    Forum Bildverarbeitung 2022
    (KIT Scientific Publishing, 2022) ;
    Bildverarbeitung verknüpft das Fachgebiet die Sensorik von Kameras - bildgebender Sensorik - mit der Verarbeitung der Sensordaten - den Bildern. Daraus resultiert der besondere Reiz dieser Disziplin. Der vorliegende Tagungsband des „Forums Bildverarbeitung“, das am 24. und 25.11.2022 in Karlsruhe als Veranstaltung des Karlsruher Instituts für Technologie und des Fraunhofer-Instituts für Optronik, Systemtechnik und Bildauswertung stattfand, enthält die Aufsätze der eingegangenen Beiträge.
  • Publication
    Forum Bildverarbeitung 2020
    (KIT Scientific Publishing, 2020) ;
    Bildverarbeitung spielt in vielen Bereichen der Technik zur schnellen und berührungslosen Datenerfassung eine Schlüsselrolle, etwa in der Qualitätssicherung oder in der Robotik. Der vorliegende Tagungsband des ""Forums Bildverarbeitung"", das am 26. und 27.11.2020 in Karlsruhe als gemeinsame Veranstaltung des Karlsruher Instituts für Technologie und des Fraunhofer-Instituts für Optronik, Systemtechnik und Bildauswertung stattfand, enthält die Aufsätze der Beiträge.
  • Publication
    OCM 2019, 4th International Conference on Optical Characterization of Materials
    (KIT Scientific Publishing, 2019) ;
    Puente Leon, Fernando
    ;
    Each material has its own specific spectral signature independent if it is food, plastics, or minerals. During the conference we will discuss new trends and developments in material characterization. You also will be informed about latest highlights to identify spectral footprints and their realizations in industry.
  • Publication
    Forum Bildverarbeitung 2018
    (KIT Scientific Publishing, 2018) ;
    Puente Leon, F.
    ;
    Heizmann, M.
    Bildverarbeitung spielt in vielen Bereichen der Technik zur schnellen und berührungslosen Datenerfassung eine Schlüsselrolle. Der vorliegende Tagungsband des "Forums Bildverarbeitung", das am als Veranstaltung des Karlsruher Instituts für Technologie und des Fraunhofer-Instituts für Optronik, Systemtechnik und Bildauswertung stattfand, enthält die Aufsätze der eingegangenen Beiträge. Darin wird über aktuelle Trends und Lösungen der Bildverarbeitung berichtet.
  • Publication
    Forum Bildverarbeitung 2016
    (KIT Scientific Publishing, 2016)
    Heizmann, M.
    ;
    ;
    Puente Leon, F.
  • Publication
    OCM 2015, 2nd International Conference on Optical Characterization of Materials
    (KIT Scientific Publishing, 2015) ;
    Puente Leon, Fernando
    ;
    Each material has its own specific spectral signature independent if it is food, plastics, or minerals. During the conference we will discuss new trends and developments in material characterization. You also will be informed about latest highlights to identify spectral footprints and their realizations in industry.
  • Publication
    OCM 2013, Optical characterization of materials. Conference proceedings
    (KIT Scientific Publishing, 2013) ;
    Puente Leon, Fernando
    ;
    The state of the art in optical characterization of materials is advancing rapidly. New insights into the theoretical foundations of this research field have been gained and exciting practical developments have taken place, both driven by novel applications that are constantly emerging. This book presents latest research results in the domain of Characterization of Materials by spectral characteristics of UV (240 nm) to IR (14 µm), multispectral image analysis, X-Ray, polarimetry and microscopy.