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Anordnung zur optischen Erfassung und/oder Prüfung eines Werkstücks

 
: Roemer, Urs; Kühn, Tobias; Kaphengst, Marvin

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DE 102019129623 A1: 20191104
Deutsch
Patent, Elektronische Publikation
Fraunhofer IFAM ()

Abstract
Die Erfindung betrifft eine Anordnung (1) zur optischen Erfassung und/oder Prüfung eines Werkstücks (2) umfassend einen Untersuchungsbereich zur Aufnahme des Werkstücks (2), eine optische Erfassungseinheit (3) zur optischen Erfassung des im Untersuchungsbereich angeordneten Werkstücks (2) und wenigstens eine Beleuchtungseinheit (5a; 5b). Die Beleuchtungseinheit (5a; 5b) weist wenigstens eine Lichtquelle (10a; 10b; 10c; 10d), ein Reflexionselement (11a, 11b) mit einer diffus reflektierenden Reflexionsoberfläche und ein Lichtauslasselement (13a; 13b), durch das ein Lichtbündel (9a; 9b) mit von der Lichtquelle (10a; 10b; 10c; 10d) emittiertem Licht in den Untersuchungsbereich abgegeben werden kann. Die Lichtquelle (10a; 10b; 10c; 10d) und das Reflexionselement (13a; 13b) sind derart angeordnet, dass das abgegebene Lichtbündel (9a; 9b) im Wesentlichen nur von der Lichtquelle (10a; 10b; 10c; 10d) emittiertes Licht umfasst, das an der Reflexionsoberfläche des Reflexionselements (13a; 13b) reflektiert worden ist.

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/N-635895.html