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Inspektion spiegelnder Oberflächen mit Wavelet-basierten Verfahren

 
: Ziebarth, M.

:
Postprint urn:nbn:de:0011-n-2256386 (2.0 MByte PDF)
MD5 Fingerprint: 6ff170159cf4d73303f92a828b9542dc
Erstellt am: 24.1.2013


Puente Leon, Fernando (Ed.); Heizmann, Michael (Ed.):
Forum Bildverarbeitung 2012 : Regensburg, 29.-30. November 2012
Karlsruhe: KIT Scientific Publishing, 2012
ISBN: 978-3-86644-927-5
S.167-180
Forum Bildverarbeitung <2012, Regensburg>
Deutsch
Konferenzbeitrag, Elektronische Publikation
Fraunhofer IOSB ()

Abstract
Es werden Methoden zur Inspektion spiegelnder Oberflächen vorgestellt, die auf defektometrischen Verfahren und der Wavelet-Theorie aufbauen. Mit diesen Methoden lassen sich Defekte lokalisieren und mit einem Bayes'schen Ansatz in unterschiedliche Klassen einteilen. Unser Waveletbasierter Entwurf bietet eine Reihe von Vorteilen: Erstens ist die Klassifikation und Detektion von Defekten im Skalenraum sehr vereinfacht, da sich die relevanten Informationen über die Oberflächeneigenschaften auf relativ wenige große Koeffizienten verteilen. Zweitens ist dank der multiskaligen Verarbeitung die gleichzeitige Detektion von großen und kleinen Eigenschaften möglich. Und drittens ist es durch die Auswahl von passenden Wavelets möglich, unerwünschte Eigenschaften (wie die Gestalt der zugrunde liegenden Oberfläche) bereits in der Transformation statt erst in der Klassifikation zu unterdrücken. Anhand von experimentellen Ergebnissen zeigen wir die Eignung der Methoden, um lackierte Oberflächen zu beurteilen und relevante Klassen von Oberflächendefekten zu unterscheiden.

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/N-225638.html