Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2020Experiences of Continuous On-Sun Performance Measurements of Perovskite Mini-Modules
Norton, Matthew; Kohlstädt, Markus; Hadjipanayi, Maria; Paraskeva, Vasiliki; Würfel, Uli; Georghiou, George E.
Konferenzbeitrag
2019Extracting Metal and Edge Recombination Parameters which are Compatible with Multi-Dimensional Cell Simulations
Saint-Cast, P.; Herrmann, D.; Baliozan, P.; Stolzenburg, H.; Höffler, H.; Fell, A.
Konferenzbeitrag
2019Non-Destructive Approach for Measuring Base Resistivity of Emitter-Diffused, Partially-Processed Wafers Using Temperature-Stage QSSPC
Kuruganti, V.; Haunschild, J.; Brand, A.; Al-Hajjawi, S.; Rein, S.; Glunz, S.W.
Konferenzbeitrag
2017Comparison of inline hot spot detection and evaluation algorithms for crystalline silicon solar cells
Wasmer, S.; Geisemeyer, I.; Pfengler, D.; Greulich, J.; Rein, S.
Konferenzbeitrag
2017Increasing the efficiency of multicrystalline silicon PERC solar cells from currently 19% to 20%
Greulich, J.; Lohmüller, E.; Saint-Cast, P.; Werner, S.; Wasmer, S.; Horst, A.J. van der; Preu, R.
Konferenzbeitrag
2017Review of tools and approaches for inline quality control in high efficiency silicon solar cell production
Haunschild, J.; Greulich, J.; Höffler, H.; Wasmer, S.; Emanuel, G.; Krieg, A.; Friedrich, L.; Rein, S.
Konferenzbeitrag
2015Investigating the impact of parameter and process variations on multicrystalline PERC cell efficiency
Wasmer, S.; Greulich, J.; Höffler, H.; Haunschild, J.; Demant, M.; Rein, S.
Konferenzbeitrag
2014Two image processing tools to analyse alkaline texture and contact finger geometry in microscope images
Strauch, T.; Demant, M.; Lorenz, A.; Haunschild, J.; Rein, S.
Konferenzbeitrag
2010Erstellung und Auswertung brennstoffcharakteristischer Freisetzungsprofile mittels einer Versuchsanlage zur gestuften thermischen Umsetzung fester Brennstoffe
Gerstner, A.
: Glinka, U.; Danz, P.
Diplomarbeit
2007Simulation of nanoidentation and penetration tests for coating-substrate-characterisation
Leopold, J.; Schmidt, G.; Stark, S.; Wielage, B.; Wank, A.; Rupprecht, C.; Hoyer, K.
Konferenzbeitrag