Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2014Reliability of CMOS on silicon-on-insulator for use at 250 °C
Grella, Katharina; Dreiner, Stefan; Vogt, Holger; Paschen, Uwe
Zeitschriftenaufsatz
2009A fast WLR test for the evaluation of EEPROM endurance
Uhlemann, A.; Aal, A.; Vogt, H.
Konferenzbeitrag
2009Light switched plasma charging damage protection device allowing high field characterization
Sommer, S.P.; Paschen, U.; Figge, M.; Vogt, H.
Konferenzbeitrag
1996A new wafer level reliability method for evaluation of ionic induced PMOSFET drift effects
Dreizner, A.; Nagel, J.; Scharfe, R.
Konferenzbeitrag