Fraunhofer-Gesellschaft

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Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2019Feasibility of 4H-SiC p-i-n diode for sensitive temperature measurements between 20.5 K and 802 K
Matthus, C.D.; Benedetto, L. di; Kocher, M.; Bauer, A.J.; Licciardo, G.D.; Rubino, A.; Erlbacher, T.
Zeitschriftenaufsatz
2018Development of multidimensional characteristic maps for the real-time adjustment of thermally induced TCP-displacements in precise machining
Putz, Matthias; Oppermann, Christian; Bräunig, Michael
Konferenzbeitrag
2015Model-based representation of thermo-energetic effects in cutting tools and part clamping devices
Bräunig, Michael; Semmler, Ulrich; Schmidt, Gerhard; Wittstock, Volker; Putz, Matthias
Aufsatz in Buch
2014Microscopic in-operando thermography at the cross section of a single lithium ion battery stack
Heubner, Christian; Lämmel, Christoph; Junker, Nils; Schneider, Michael; Michaelis, Alexander
Zeitschriftenaufsatz
2014Thermal deformations of cutting tools: Measurement and numerical simulation
Semmler, Ulrich; Bräunig, Michael; Drossel, Welf-Guntram; Schmidt, Gerhard; Wittstock, Volker
Zeitschriftenaufsatz
2013Increased reliability of a robot tool for preforming dry carbon fiber textiles by enhanced measurement, heating system and communication
Wang, Jining
Master Thesis
2011IR-based temperature measurement in rotational grinding of sapphire wafers
Klocke, Fritz; Kuljanic, Elso; Dambon, Olaf; Sortino, M.; Herben, Maurice; Totis, G.
Konferenzbeitrag
2011Post cure behaviour of encapsulants for QFN packages processed by an open-ended single mode resonant microwave applicator
Pavuluri, Sumanth Kumar; Desmulliez, Marc P.Y.; Goussetis, George; Arrighi, Valeria; Johnston, K.; Adamietz, Raphael; Tilford, Tim; Bailey, Chris
Konferenzbeitrag
2010Advances in the design and test of a novel open ended microwave oven
Pavuluri, Sumanth Kumar; Tilford, Tim; Goussetis, George; Desmulliez, Marc P.Y.; Ferenets, Marju; Adamietz, R.; Eicher, F.; Bailey, Chris
Konferenzbeitrag
2010Sensing properties of carbon nanotube composite
Maier, Mathias
Konferenzbeitrag
2009FAST/SPS of hBN/TiB2 Composites
Räthel, J.; Herrmann, M.
Vortrag
2008Densification of electrically conductive composites close to percolation threshold
Räthel, J.; Herrmann, M.; Beckert, W.; Nürnberger, M.
Vortrag
2003An example for modular diode laser systems: Minimizing warpage during transformation hardening of linear guiding rails
Drenker, A.; Baumann, M.; Pirch, N.; Plum, H.-D.; Sommer, J.; Vitr, G.; Kaierle, S.; Wissenbach, K.; Poprawe, R.
Konferenzbeitrag
2003Überwachung und Steuerung von Lackierprozessen - Flüssiglackbeschichtung - Lackfilm-Vernetzung
Schneider, M.
Konferenzbeitrag
2002Überwachung und Steuerung von Lackierprozessen - Flüssiglackbeschichtung - Lackfilm-Vernetzung
Klein, W.; Schneider, M.
Konferenzbeitrag
1998Langzeitmessungen an drei wiederaufgebauten Fachwerkhäusern im Freilichtmuseum Hessenpark, Neu-Anspach
Hävemeyer, H.; Greubel, D.; Mehlhorn, L.; Böttcher, P.
Aufsatz in Buch
1997Untersuchung des thermischen Verhaltens von Werkzeugmaschinen mit BEAM
Nestmann, S.
Zeitschriftenaufsatz
1996Temperature measurement at RTP facilities. An overview
Wagner, J.; Böbel, F.G.
Konferenzbeitrag
1995In situ film thickness and temperature control of molecular beam epitaxy growth by pyrometric interferometry
Böbel, F.G.; Möller, H.; Hertel, B.; Grothe, H.; Schraud, G.; Schröder, S.; Chow, P.
Zeitschriftenaufsatz
1995In situ observation of chemical vapour deposition growth of epitaxial SiGe thin films by reflexion supported pyrometric interferometry
Ritter, G.; Tillack, B.; Weidner, M.; Zaumseil, P.; Böbel, F.G.; Hertel, B.; Möller, H.
Konferenzbeitrag
1995In situ real-time temperature and thickness measurement for Si/SiGe growth on MBE and RTCVD systems
Möller, H.; Böbel, F.G.; Hertel, B.; Lindenberg, T.; Ritter, G.
Konferenzbeitrag
1995Pyrometrische Interferometrie. Ein neues Meßverfahren zur in-situ-Prozeßkontrolle
Böbel, F.G.
Dissertation
1995Temperature controlling with reflection supported interferometry (RSPI) at rapid thermal chemical vapor deposition-facilities (RTCVD)
Märitz, J.; Möller, H.; Böbel, F.G.; Ritter, G.; Weusthof, M.H.H.; Hollemann, J.
Konferenzbeitrag
1994Automatischer Abgleichalgorithmus für integrierte CMOS-Drucksensoren mit on-chip Programmierung.
Schlichting, V.; Lossy, R.; Graf, N.; Obermeier, E.; Hammerschmidt, D.; Schnatz, F.V.; Hosticka, B.J.
Konferenzbeitrag
1994In situ film-thickness and temperature monitor
Böbel, F.G.; Möller, H.; Hertel, B.; Ritter, G.; Chow, P.
Zeitschriftenaufsatz
1994Ein monolithisch integriertes CMOS-Drucksensorsystem mit Temperaturkompensation und On-Chip gespeicherten Kalibrationsdaten
Hammerschmidt, D.; Schnatz, F.V.; Brockherde, W.; Hosticka, B.J.; Schlichting, V.; Obermeier, E.
Konferenzbeitrag
1994Temperaturkompensation von Sensorsystemen durch CMOS-Schaltungen
Hammerschmidt, D.; Sprotte, A.; Schnatz, F.V.; Brockherde, W.; Hosticka, B.J.; Dura, H.-G.; Dudaicevs, H.; Mokwa, W.
Konferenzbeitrag
1993Pyrometrische Interferometrie: Ein neues Werkzeug zur Prozeßkontrolle in schichtabscheidenden Prozessen
Möller, H.; Böbel, F.G.
Konferenzbeitrag
1993Reflexion supported pyrometric interferometry. A new tool for in situ, real time temperature control in semiconductor manufacturing
Böbel, F.G.; Möller, H.; Preiß, W.
Konferenzbeitrag
1991In-situ film thickness measurements by using pyrometric interferometry
Boebel, F.G.; Bonnes, U.; Frohmader, K.P.
Konferenzbeitrag
1991Measurement of transient gas temperature distributions by Abel inversion and computer tomography.
Lawton, B.; Klingenberg, G.
Buch
1991Temperaturbestimmung beim Abbrand von Oktogen in einer optischen Bombe durch Analyse der auftretenden CN- und NH-Spektren
Eckl, W.; Eisenreich, N.; Schneider, H.
Konferenzbeitrag
1991Vergleich zwischen Temperaturbestimmung durch N2-CARS und durch Analyse von Oh-, C2- und CH-Emissionsspektren
Claus, W.; Söntgen, R.; Eckl, W.; Eisenreich, N.; Schneider, H.
Konferenzbeitrag
1990Control of a reactive ion etching process for InP and related materials by in-situ ellipsometry in the near infrared
Muller, R.
Konferenzbeitrag
1990Infrared-measurement of X-ray mask heating during SR-lithography
Trube, J.; Huber, H.-L.; Mourikis, S.; Koch, E.E.; Bernstoff, S.
Konferenzbeitrag