Fraunhofer-Gesellschaft

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Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2017How dry is dry? - A critical analysis of surface conditions used in dry metal forming
Almohallami, Amer; Arghavani, Mostafa; Böhmermann, Florian; Freiße, Hannes; Herrmann, Marius; Mousavi, Ali; Schöler, Simon; Scholz, Peter; Tenner, Jennifer; Teller, Marco; Wulff, Daniel; Yilkiran, Deniz; Maier, Hans-Jürgen; Umlauf, Georg
Zeitschriftenaufsatz
2017Why do we need chemical derivatization?
Holländer, Andreas
Zeitschriftenaufsatz
2015Influence of subsurface microstructure on the running-in of an AlSi alloy
Linsler, D.; Schlarb, T.; Weingärtner, T.; Scherge, M.
Zeitschriftenaufsatz
2015Metal-support interactions in surface-modified Cu-Co catalysts applied in higher alcohol synthesis
Bordoloi, Ankur; Anton, Johan; Ruland, Holger; Muhler, Martin; Kaluza, Stefan
Zeitschriftenaufsatz
2010Atmospheric-pressure plasma amination of polymer surfaces
Klages, C.-P.; Hinze, A.; Willich, P.; Thomas, M.
Zeitschriftenaufsatz
20093D-confocal-microscopy: New advantages for non destructive measurements
Jelen, E.
Abstract
2003Methoden der analytischen Bewertung und Charakterisierung von Materialoberflächen und Funktionsschichten
Vohrer, U.; Hegemann, D.
Aufsatz in Buch
1995Investigation of surface topography, morphology and structure of hard amorphous carbon films by AFM and TEM
Drescher, D.; Kolitsch, A.; Mensch, A.; Scheibe, H.J.
Konferenzbeitrag
1995Raman characterization of amorphous carbon films
Drescher, D.; Alers, P.; Scheibe, H.J.
Konferenzbeitrag
1994Development and characterization of microelectrode arrays by means of electrochemical and surface analysis methods.
Wittkampf, M.; Naendorf, B.; Cammann, K.; Rospert, M.; Mokwa, W.; Hagenhoff, B.; Benninghoven, A.; Amrein, M.; Reichelt, R.; Gründig, B.
Konferenzbeitrag
1994Farbstoffe helfen Oberflächen charakterisieren
Hartwig, A.
Zeitschriftenaufsatz
1994Strategy for applying microanalytical techniques
Willich, P.
Konferenzbeitrag
1994Untersuchungen zum Kleben von kohlenstoffaserverstärktem Polyetheretherketon
Born, E.; Groß, A.; Vissing, K.D.; Hennemann, O.-D.
Zeitschriftenaufsatz
1992Characterization of metal impurities in silicon-on-insulator material
Frey, L.; Kroninger, F.; Streckfuß, N.; Ryssel, H.
Konferenzbeitrag
1992Oberflächenanalytik mit Augerelektronenspektroskopie -AES- und Photoelektronenspektroskopie -XPS,ESCA-
Schlett, V.
Aufsatz in Buch
1990Detection limits of contamination analysis by nitrogen RBS
Weidhaas, J.; Lang, W.
Tagungsband
1988Small spot ESCA and scanning XPS investigations compared to scanning auger microanalysis.
Brünger, W.H.
Zeitschriftenaufsatz