Fraunhofer-Gesellschaft

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Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2021IC package related stress effects on the characteristics of ring oscillator circuits
Schlipf, Simon; Sander, Christoph; Clausner, André; Paul, Jens; Capecchi, Simone; Wambera, Laura; Meier, Karsten; Zschech, Ehrenfried
Konferenzbeitrag
2019A compact resistive quadrature low noise Ka-band VCO SiGe HBT MMIC
Dyskin, Aleksey; Wagner, Sandrine; Kallfass, Ingmar
Konferenzbeitrag
2013High temperature characterization up to 450°C of MOSFETs and basic circuits realized in a Silicon-on-Insulator (SOI) CMOS-technology
Grella, Katharina; Dreiner, Stefan; Schmidt, Alexander; Heiermann, Wolfgang; Kappert, Holger; Vogt, Holger; Paschen, Uwe
Zeitschriftenaufsatz
2012High temperature characterization up to 450 °C of MOSFETs and basic circuits realized in a Silicon-on-Insulator (SOI) CMOS-technology
Grella, Katharina; Dreiner, Stefan; Schmidt, Alexander; Heiermann, Wolfgang; Kappert, Holger; Vogt, Holger; Paschen, Uwe
Konferenzbeitrag
2000Complementary HFETs on GaAs with 0.2µm gate length
Leuther, A.; Thiede, A.; Köhler, K.; Jakobus, T.; Weimann, G.
Konferenzbeitrag