Fraunhofer-Gesellschaft

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Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2019Thin-film characterization with a dual-channel dispersion-encoded imaging low-coherence interferometry approach
Taudt, Christopher; Preuß, Marco; Nelsen, Bryan; Baselt, Tobias; Koch, Edmund; Hartmann, Peter
Konferenzbeitrag
2018Non-contact inspection of complex optical components
Depiereux, Frank; Rämer, Kurt
Zeitschriftenaufsatz
2017Berührungslose Prüfung komplexer Optik-Komponenten
Depiereux, Frank; Rämer, Kurt
Zeitschriftenaufsatz
2017Characterization of edge effects in precision low-coherence interferometry using broadband light sources
Taudt, Christopher; Baselt, Tobias; Nelsen, Bryan L.; Aßmann, Heiko; Greiner, Andreas; Koch, Edmund; Hartmann, Peter
Konferenzbeitrag
2017Monitoring of laser material processing using machine integrated low-coherence interferometry
König, Niels; Kunze, Rouwen; Schmitt, Robert
Konferenzbeitrag
2016High-speed microscopy of continuously moving cell culture vessels
Schenk, Friedrich; Brill, Nicolai; Marx, Ulrich; Hardt, Daniel; König, Niels; Schmitt, Robert
Zeitschriftenaufsatz
2016Hochgeschwindigkeitsmikroskopie zur Qualitätskontrolle
Schenk, Friedrich; Arnold, Steffen; Reiff, Ellen-Christine
Zeitschriftenaufsatz
2016Hochgeschwindigkeitsmikroskopie zur Qualitätskontrolle
Schenk, Friedrich; Arnold, Steffen; Reiff, Ellen-Christine
Zeitschriftenaufsatz
2016Measurement of surface topographies in the nm-range for power chip technologies by a modified low-coherence interferometer
Taudt, Christopher; Baselt, Tobias; Nelsen, Bryan L.; Aßmann, Heiko; Greiner, Andreas; Koch, Edmund; Hartmann, Paul
Konferenzbeitrag
2016OCT for process monitoring of laser transmission welding
Schmitt, Robert; Ackermann, Philippe
Zeitschriftenaufsatz
2016Two-dimensional low-coherence interferometry for the characterization of nanometer-wafer-topographies
Taudt, Christopher; Baselt, Tobias; Nelsen, Bryan; Aßmann, Heiko; Greiner, Andreas; Koch, Edmund; Hartmann, Peter
Konferenzbeitrag
2014Helfer ohne Fehl und Tadel - Assistenzsysteme für den sicheren Einsatz optischer Abstandssensoren
Böttner, Thomas; Mauch, Florian; Osten, Wolfgang; Riedel, Jörn; Schmitt, Robert; Schmidt, Heiko; Hausotte, Tino; Wiehr, Christian; Seewig, Jörg
Zeitschriftenaufsatz
2014Weißlichtinterferometrie
Riedel, Jörn
Aufsatz in Buch
2013A common-path interferometer including integrated single-prism beam shaping
Gerhard, C.; Heine, J.; Bahr, B.; Brückner, S.; Viöl, W.
Zeitschriftenaufsatz
2013Experimental comparison of phase-shifting fringe projection and statistical pattern projection for active triangulation systems
Lutzke, Peter; Schaffer, Martin; Kühmstedt, Peter; Kowarschik, Richard; Notni, Gunther
Konferenzbeitrag
2013Optical testing of eyeglasses with novel measurement concept for wavefront scanning
Schmitt, Ralf; Stürwald, Stephan
Konferenzbeitrag
20123D metrology system based on a bi-directional OLED microdisplay
Großmann, Constanze; Gawronski, Ute; Breitbarth, Martin; Notni, Gunther; Tünnermann, Andreas
Konferenzbeitrag
2012High precision, fast and flexible calibration of robots and large multi-axis machine tools
Brecher, Christian; Flore, Jakob; Haag, Sebastian; Wenzel, Christian
Konferenzbeitrag
2012Optical system design based on Bi-directional sensor devices
Großmann, Constanze; Gawronski, Ute; Perske, F.; Notni, Gunther; Tünnermann, Andreas
Konferenzbeitrag
2011Maschinenintegrierte Messtechnik für die Herstellung von Diamantschneidwerkzeugen
Fleischle, David; Berger, Reinhard; Lyda, Wolfram; Sobotka, Andreas; Osten, Wolfgang
Konferenzbeitrag
2011Surface metrology system based on bidirectional microdisplays
Großmann, C.; Perske, F.; Zwick, S.; Baumgarten, J.; Richter, B.; Riehemann, S.; Vogel, U.; Notni, G.; Tünnermann, A.
Konferenzbeitrag
2006Großflächige Mikrostrukturierung
Brecher, C.; Schmitt, R.; Lange, S.C.; Koerfer, F.; Niehaus, F.; Widemann, R.
Zeitschriftenaufsatz
2000MicroScan: a DMD based optical surface profiler
Bitte, F.; Dussler, G.; Pfeifer, T.; Frankowski, G.
Konferenzbeitrag
2000Optical metrology for microsystems inspection
Pfeifer, T.; Bitte, F.; Dussler, G.
Konferenzbeitrag
1997Combined theoretical and experimental methods in materials mechanics
Höfling, R.
Konferenzbeitrag