Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2019Identification of Soft Failure Mechanisms Triggered by ESD Stress on a Powered USB 3.0 Interface
Koch, Sebastian; Orr, Benjamin J.; Gossner, H.; Gieser, Horst A.; Maurer, Linus
Zeitschriftenaufsatz
2018Analysis of electromigration-induced backflow stresses in Cu(Mn) interconnects using high statistical sampling
Kraatz, Matthias; Sander, Christoph; Clausner, André; Hauschildt, M.; Standke, Yvonne; Gall, Martin; Zschech, Ehrenfried
Konferenzbeitrag
2016LNA module reliability testing for the MetOp second generation satellites
Kärkkäinen, M.; Kantanen, M.; Alanne, A.; Viitanen, J.; Jukkala, P.; Rösch, M.; Leuther, A.; Perichaud, M.-G.; Kangas, V.
Konferenzbeitrag
1998Alternative solders for flip chip applications in the automotive environment
Jung, E.; Heinricht, K.; Klöser, J.; Aschenbrenner, R.; Reichl, H.
Konferenzbeitrag
1998CMOS sensor systems
Hosticka, B.J.
Konferenzbeitrag
1998CMOS sensor systems
Hosticka, B.J.
Konferenzbeitrag
1998Correlation of thermo-mechanical properties of adhesives with reliability of FC interconnections
Mießner, R.; Aschenbrenner, R.; Reichl, H.
Konferenzbeitrag
1998The development of a modular 32 Bit microcontroller MCM in top bottom BGA (TB-BGA) technique
Leutenbauer, R.; Amiri Jam, K.; Reichl, H.
Konferenzbeitrag
1998Experience with a fully automatic flip-chip assembly line integrating SMT
Klöser, J.; Kutzner, K.; Jung, E.; Heinricht, K.; Lauter, L.; Töpper, M.
Konferenzbeitrag
1998Interchip via technology-three dimensional metallization for vertically integrated circuits
Bertagnolli, E.; Bollmann, D.; Braun, R.; Buchner, R.; Engelhardt, M.; Grassl, T.; Hieber, K.; Kawala, G.; Kleiner, M.; Klumpp, A.; Kuhn, S.; Landesberger, C.; Pamler, W.; Popp, R.; Ramm, P.; Renner, E.; Ruhl, G.; Scheler, U.; Schmidt, C.; Schwarzl, S.; Weber, J.; Sänger, A.
Konferenzbeitrag
1998Reliability aspects of molded BGA's related to material properties
Ehrlich, R.; Becker, K.-F.; Badri Ghavifekr, H.; Ansorge, F.; Aschenbrenner, R.; Reichl, H.; Sawai, K.; Tanaka, A.; Kumano, K.; Tenya, Y.; Chichon, M.; Hosokawa, H.
Konferenzbeitrag
1998Reliability investigations of flip chip interconnects in FCOB and FCOG applications by FEA
Schubert, A.; Dudek, R.; Döring, R.; Michel, B.
Konferenzbeitrag
1998Reliability investigations of Sn/Pb and lead free solders for flip chip technology
Klöser, J.; Jung, E.; Heinricht, K.; Kutzner, K.; Ostmann, A.; Reichl, H.
Konferenzbeitrag
1998Thermo-mechanical reliability of flip chip structures used in DCA and CSP
Schubert, A.; Dudek, R.; Vogel, D.; Michel, B.; Reichl, H.
Konferenzbeitrag
1997Adhesive flip chip bonding on flexible substrates
Aschenbrenner, R.; Mießner, R.; Reichl, H.
Zeitschriftenaufsatz, Konferenzbeitrag
1997Adhesive flip chip bonding on flexible substrates
Aschenbrenner, R.; Mießner, R.; Reichl, H.
Zeitschriftenaufsatz, Konferenzbeitrag
1997High performance cooling technology for Multi Chip Modules (MCM-D) with planar embedded dice
Hahn, R.; Töpper, M.; Schmidt, M.; Kamp, A.; Ginolas, A.; Wolf, J.; Glaw, V.; Buschick, K.; Ehrmann, O.; Reichl, H.
Konferenzbeitrag
1997The influence of NiSn intermetallics on the performance of flip chip contacts using a low cost electroless nickel bumping approach
Jung, E.; Kasulke, P.; Giebler, R.; Klöser, J.; Dietrich, L.; Ostmann, A.; Zakel, E.; Reichl, H.
Zeitschriftenaufsatz
1997Measurement of PbSn and AuSn flip chip area bump thermal resistance
Hahn, R.; Kamp, A.; Reichl, H.
Konferenzbeitrag
1997Three dimensional metallization for vertically integrated circuits
Ramm, P.; Bollmann, D.; Braun, R.; Buchner, R.; Cao-Minh, U.; Engelhardt, M.; Errmann, G.; Grassl, T.; Hieber, K.; Hübner, H.; Kawala, G.; Kleiner, M.; Klumpp, A.; Kuhn, S.; Landesberger, C.; Lezec, H.; Muth, W.; Pamler, W.; Popp, R.; Renner, E.; Ruhl, G.; Scheler, U.; Schertel, A.; Schmidt, C.; Schwarzl, S.; Weber, J.; Weber, W.; Sänger, A.
Konferenzbeitrag
1996The influence of NiSn intermetallics on the performance of flip chip contacts using a low cost electroless nickel bumping approach
Jung, E.; Giebler, R.; Klöser, J.; Dietrich, L.; Zakel, E.; Reichl, H.; Kasulke, P.; Ostmann, A.
Konferenzbeitrag