Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2002Deposition of diamond/beta-SiC gradient composite films by microwave plasma-assisted chemical vapor deposition
Shi, Y.; Tan, M.; Jiang, X.
Zeitschriftenaufsatz
2002Electron probe microanalysis (EPMA) measurement of thin-film thickness in the nanometre range
Procop, M.; Radtke, M.; Krumrey, M.; Hasche, K.; Schädlich, S.; Frank, W.
Zeitschriftenaufsatz
1994Practical aspects of modern electron probe microanalysis
Willich, P.
Konferenzbeitrag
1994Thin surface layer (1nm-1mym) analysis with EPMA or SEM plus EDS - the principle and examples
Willich, P.; Bethke, R.
Konferenzbeitrag
1993Electron probe microanalysis of submicron coatings containing ultralight elements
Willich, P.; Bethke, R.
Konferenzbeitrag
1993Elektronenstrahl-Mikroanalyse zur Charakterisierung dünner Schichten
Willich, P.; Bethke, R.; Schiffmann, K.I.
Zeitschriftenaufsatz
1992Preparation of c-BN containing films by reactive r.f. sputtering
Bewilogua, K.; Buth, J.; Hübsch, H.; Grischke, M.
Zeitschriftenaufsatz, Konferenzbeitrag
1992Programs for data processing of electron probe microanalysis applied to thin films and multilayers
Willich, P.; Schiffmann, K.I.
Konferenzbeitrag
1992Simultane Bestimmung von Schichtdicke und Zusammensetzung bei dünnen Filmen und Mehrschichtsystemen mit Hilfe der Elektronenstrahl-Mikrosonde
Schiffmann, K.I.
Konferenzbeitrag
1991Characterization of thin films and multilayers by use of electron beam excited X-ray spectrometry
Willich, P.
Buch
1991Electron probe microanalysis of Y-Ba-Cu-O superconducting materials
Willich, P.
Buch
1991EPMA - A versatile technique for the characterization of thin films and layered structures
Willich, P.
Konferenzbeitrag
1991EPMA of surface oxide films
Willich, P.; Schiffmann, K.I.
Konferenzbeitrag