Fraunhofer-Gesellschaft

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Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2018Gasanalytik, Schichtdickenmessungen und Stabilitätsuntersuchungen an kostengünstigen Elektroden für stationäre Energiespeicher
Petit, Jan
: Tübke, Jens (Betreuer); Pfeifer, Peter (Gutachter); Hagen, Marcus (Betreuer)
Master Thesis
2016Im Durchlauf: Inline-Prüfung von gekrümmten Oberflächen und Beschichtungen
Negara, Christian
Zeitschriftenaufsatz
2016Non-destructive measurement of thickness and refractive index of multilayer coating on metal substrate
Nguyen, Dinh T.; Weber, Katharina; Wegmann, Volker; Hernandez, Yves
Konferenzbeitrag
2014Zerstörungsfreie Analyse
Jonuscheit, Joachim
Zeitschriftenaufsatz
2011Optische Schichtdickenmessung von funktionellen Nassbeschichtungen auf Kunststofffolien
Teuscher, N.; Schubert, W.; Heilmann, A.
Zeitschriftenaufsatz
2011Optische Schichtdickenmessung von funktionellen Nassbeschichtungen auf Kunststofffolien (Teil 2)
Teuscher, N.; Schubert, W.; Heilmann, A.
Zeitschriftenaufsatz
2011Pulverlacke auf Anwendung trimmen
Ondratschek, Dieter
Zeitschriftenaufsatz
2009Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA)
Romankiewicz, Katja
Konferenzbeitrag
2009Zwischen Mikrowellen und Infrarot: Terahertz-Wellen
Theuer, M.; Molter, D.; Rahm, M.; Beigang, R.
Zeitschriftenaufsatz
2008Investigation of thin oxide films on titanium for capacitor applications
Schroth, S.; Schneider, M.; Mayer-Uhma, T.; Michaelis, A.; Klemm, V.
Konferenzbeitrag, Zeitschriftenaufsatz
2007Algorithmik zur Auswertung von Thermographiebildern bei der Lock-In- und Impulsthermographie
Netzelmann, U.
Aufsatz in Buch
2005Aktive Thermische Prüftechniken zur Charakterisierung von Keramikbauteilen
Walle, G.
Konferenzbeitrag
2003Überwachung und Steuerung von Lackierprozessen - Flüssiglackbeschichtung - Spritzlackieren
Domnick, J.
Konferenzbeitrag
2002Überwachung und Steuerung von Lackierprozessen - Flüssiglackbeschichtung - Spritzlackieren
Domnick, J.
Konferenzbeitrag
1999Zerstörungsfreie Prüfung mittels thermographischer Verfahren
Walle, G.; Karpen, W.; Netzelmann, U.; Rösner, H.; Meyendorf, N.
Zeitschriftenaufsatz
1998Prüfung mechanisch-technologischer Lackschichteigenschaften
Scheibe, A.; Groß, O.
Konferenzbeitrag
1998Der Schicht auf den Grund gehen
Markschläger, P.; Mann, D.; Metzner, M.
Zeitschriftenaufsatz
1997Implementierung und Bewertung verschiedener Modelle zur Beschreibung von Degradationsprozessen in höchstintegrierten Bauelementen zur Lebensdauerprognose integrierter Schaltungen
Lange, U.
Diplomarbeit
1997Kalottenschliff
Morlok, O.; Scheibe, A.; Truger, T.
Zeitschriftenaufsatz
1996Sensoren, Aktoren auf der Basis eines Sol- Gel - Moduls
Otschik, P.; Kluge, A.; Grimme, R.; Schönecker, A.; Schumacher, A.; Gesemann, H.J.
Konferenzbeitrag
1996Temperature measurement at RTP facilities. An overview
Wagner, J.; Böbel, F.G.
Konferenzbeitrag
1995In situ film thickness and temperature control of molecular beam epitaxy growth by pyrometric interferometry
Böbel, F.G.; Möller, H.; Hertel, B.; Grothe, H.; Schraud, G.; Schröder, S.; Chow, P.
Zeitschriftenaufsatz
1995In situ observation of chemical vapour deposition growth of epitaxial SiGe thin films by reflexion supported pyrometric interferometry
Ritter, G.; Tillack, B.; Weidner, M.; Zaumseil, P.; Böbel, F.G.; Hertel, B.; Möller, H.
Konferenzbeitrag
1995Optimierung von Bedampfungsprozessen
Gärtner, T.
Buch
1995Pyrometrische Interferometrie. Ein neues Meßverfahren zur in-situ-Prozeßkontrolle
Böbel, F.G.
Dissertation
1995Temperature controlling with reflection supported interferometry (RSPI) at rapid thermal chemical vapor deposition-facilities (RTCVD)
Märitz, J.; Möller, H.; Böbel, F.G.; Ritter, G.; Weusthof, M.H.H.; Hollemann, J.
Konferenzbeitrag
1994In situ film thickness and temperature monitoring of MBE-growth of vertical cavity surface emitting lasers (VCSELs) by reflexion supported pyrometric interferometry (RSPI)
Böbel, F.G.
Buch
1994In situ film-thickness and temperature monitor
Böbel, F.G.; Möller, H.; Hertel, B.; Ritter, G.; Chow, P.
Zeitschriftenaufsatz
1993Pyrometrische Interferometrie: Ein neues Werkzeug zur Prozeßkontrolle in schichtabscheidenden Prozessen
Möller, H.; Böbel, F.G.
Konferenzbeitrag
1993Reflexion supported pyrometric interferometry. A new tool for in situ, real time temperature control in semiconductor manufacturing
Böbel, F.G.; Möller, H.; Preiß, W.
Konferenzbeitrag
19928. Deutsche Kunststoff-Finish. "Praxis-Forum" Tagung
: Hoffmann, U.
Tagungsband
1992Die EPS-Praxis '92
Kleber, W.; Mendler, H.; Strohbeck, U.
Tagungsband
1992Qualitätssicherung und Fehlerreduzierung. Schichtdickenmeßtechnik
Svejda, P.
Aufsatz in Buch
1991Characterization of thin films and multilayers by use of electron beam excited X-ray spectrometry
Willich, P.
Buch
1991EPMA - A versatile technique for the characterization of thin films and layered structures
Willich, P.
Konferenzbeitrag
1991EPMA of surface oxide films
Willich, P.; Schiffmann, K.I.
Konferenzbeitrag
1991In-situ film thickness measurements by using pyrometric interferometry
Boebel, F.G.; Bonnes, U.; Frohmader, K.P.
Konferenzbeitrag
1991Qualitätssicherung und Fehlerreduzierung. Schichtdickenmeßtechnik
Svejda, P.
Aufsatz in Buch
1991Qualitätssicherung und Kostenreduzierung durch Steuerung und Überwachung automatisierter Spritz-Lackierprozesse
Svejda, P.
Konferenzbeitrag
1991Schichtdickenmessung im automatisierten Lackierbetrieb
Svejda, P.
Konferenzbeitrag
1990Photometrische Lackschicht-Dichtebestimmung
Stahlmann, H.-D.; Rehfeld, A.; Dülen, G.
Zeitschriftenaufsatz
1989Fortschrittliche Schichtdickenmesstechnik
Svejda, P.
Aufsatz in Buch