Fraunhofer-Gesellschaft

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Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2013Reinheitsvalidierung: Ein Blick über den Tellerrand hinaus
Kreck, Guido
Vortrag
2012Reinheitsvalidierung hinsichtlich partikulärer Kontaminationen
Kreck, Guido
Vortrag
2012Reinheitsvalidierung von technischen Oberflächen
Kreck, Guido
Vortrag
2011Schadensanalyse: Lackierfehler präzise erfassen
Klein, W.
Zeitschriftenaufsatz
2008Fast hot pressing of diamond composites for electronics' cooling applications
Schubert, T.; Neubauer, E.; Weißgärber, T.; Kieback, B.
Konferenzbeitrag
2008Ionenstrahlpräparation - ein treffliches Werkzeug zur Charakterisierung der Zwischenprodukte des schmelzpulvermetallurgischen Aluminiumschäumverfahrens
Hohlfeld, J.; Lies, C.; Höhn, S.; Obenaus, P.
Zeitschriftenaufsatz
2007Development and investigation of SiC-based thermal spray powders with alumina-yttria binder matrix
Wielage, B.; Grund, T.; Nebelung, M.; Thiele, S.; Wank, A.; Schwenk, A.
Konferenzbeitrag
2007SEM and TEM investigation of the ablation mechanisms involved in ultrashort pulsed laser drilling of silicon
Kaspar, J.; Luft, A.; Will, M.; Nolte, S.
Konferenzbeitrag
2006Laser helical drilling of silicon wafers with ns to fs pulses
Kaspar, J.; Luft, A.; Nolte, S.; Will, M.; Beyer, E.
Zeitschriftenaufsatz
2000A peep into a different world
Dilthey, U.; Brandenburg, A.; Weck, M.; Petersen, B.
Zeitschriftenaufsatz
1999Rasterelektronenmikroskopie (Versuch 4)
Rochowicz, M.
Konferenzbeitrag
1998Mikroproduktionstechnik im Großkammer-Rasterelektronenmikroskop
Hümmler, J.
Dissertation
1994Fertigungstechnik im Reinraum. Meßtechnisches Praktikum '94
 
Tagungsband
1993Untersuchung grundlegender Probleme bei der Automatisierung und Optimierung von Elektronenstrahltest -EST- Systemen
Weichert, G.
Dissertation
1991Grundlagen der Streulichtpartikelmeßtechnik
Ernst, C.
Konferenzbeitrag
1983The lateral-extension of radiation damage in ion-implanted semiconductors.
Fritzsche, C.R.; Rothemund, W.
Zeitschriftenaufsatz