Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

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2015Lab-based in-situ X-ray microscopy - methodical developments and applications in materials science and microelectronics
Niese, Sven
: Schmeißer, Dieter (Gutachter); Zschech, Ehrenfried (Gutachter); Schneider, Gerd (Gutachter)
Dissertation
1990An x-ray microscope with a plasma x-ray source
Niemann, B.; Rudolph, D.; Schmahl, G.; Diehl, M.; Thieme, J.; Meyer-Ise, W.; Neff, W.; Holz, R.; Richter, F.; Herziger, G.; Lebert, R.
Zeitschriftenaufsatz