Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2019Quick roughness evaluation of cut edges using a convolutional neural network
Stahl, Janek; Jauch, Christian
Konferenzbeitrag
2018Nano-Design für Makroschichten. Anwendungsperspektiven für PVD-Beschichtungen bis 100 μm Dicke
Krülle, Tim; Kaulfuß, Frank; Zimmer, Otmar; Leyens, Christoph
Zeitschriftenaufsatz
2017Charakterisierungsmethoden zur Bestimmung der Dispersionsqualität
Lee, Daniel
Konferenzbeitrag
2009Kieferorthopädische Apparaturen und Knirscherschienen schonend reinigen
Gonser, F.; Kiesow, A.
Zeitschriftenaufsatz
2008Bewertung durch Zahnbürstenreinigung hervorgerufener Oberflächenveränderungen bei Prothesenkunststoffen
Gonser, F.; Kiesow, K.; Sarembe, S.; Petzold, M.
Zeitschriftenaufsatz
2004Einfluss der Schichtdecke und der Oberflächentopographie auf die Lebensdauer von DLC-Schichten im Wälzkontakt - Simulation und Experiment
Blug, B.; Meier, S.; Pfeiffer, W.; Hollstein, T.
Konferenzbeitrag
2004Kleben von Glas an Formenwerkstoffen-Prüfapparatur und Prüfmethode
Manns, P.; Rieser, D.; Spieß, G.; Kleer, G.
Konferenzbeitrag
2003Prüfungsverfahren für Werkstoffe zur Formgebung von Glasschmelzen
Manns, P.; Rieser, D.; Spieß, G.; Kolloff, R.; Döll, W.
Bericht
2003Untersuchungen zum Klebe- und Abriebverhalten von Formenwerkstoffen und Beschichtungen unter Einsatzbedingungen der Heißformgebung
Rieser, D.; Manns, P.; Spieß, G.; Kleer, G.
Konferenzbeitrag
1999Nicht alles, was glänzt, ist goldwert. Gesteigerte Wirtschaftlichkeit und Qualität durch optimierten Polierprozeß
Hambücker, S.
Zeitschriftenaufsatz
1998AFM and light scattering measurements of optical thin films for applications in the UV spectral region
Jakobs, S.; Duparre, A.; Truckenbrodt, H.
Zeitschriftenaufsatz
1998Interfacial roughness and related scatter in UV-optical coatings
Jacobs, S.; Duparre, A.; Truckenbrodt, H.
Zeitschriftenaufsatz
1997Characterization of SiO2 protective coatings on polycarbonate
Jakobs, S.; Schulz, U.; Duparre, A.; Kaiser, N.
Zeitschriftenaufsatz
1997Concepts for standardization of total scatter measurements at 633 nm
Kadkhoda, M.; Strink, P.; Ristau, D.; Duparre, A.; Gliech, S.; Reng, N.; Greif, M.; Schuhmann, R.; Goldner, M.
Konferenzbeitrag
1997Non-contact testing of optical surfaces by multiple-wavelength light scattering measurement
Duparre, A.; Gliech, S.
Konferenzbeitrag
1997Quality assessment from supersmooth to rough surfaces by multiple-wavelength light scattering measurement
Duparre, A.; Gliech, S.
Konferenzbeitrag
1996Analysis of interface and volume inhomogenities in a multilayer system by light scattering methods
Pichlmaier, S.; Hehl, K.; Schuhmann, U.; Duparre, A.; Gliech, S.
Konferenzbeitrag
1996Apparatus for measuring integrated light scattering of optical components over an extended range of wavelengths
Duparre, A.; Gliech, S.
Konferenzbeitrag
1996Combination of surface characterization techniques for investigating optical thin-film components
Duparre, A.; Jakobs, S.
Zeitschriftenaufsatz
1996Dependence of the surface morphology and scattering of optical coatings on film material, substrate roughness, and deposition process
Jakobs, S.; Feigl, T.; Duparre, A.
Konferenzbeitrag
1996Optical scattering and surface microstructure of thin films for laser application
Duparre, A.; Kiesel, A.; Gliech, S.
Zeitschriftenaufsatz
1996Roughness analysis of optical films and substrates by atomic force microscopy
Duparre, A.; Ruppe, C.
Zeitschriftenaufsatz
1995Light scattering of thin dielectric films
Duparre, A.
Aufsatz in Buch
1994Interface and volume inhomogenities in optical thin films investigated by light scattering methods
Duparre, A.; Gliech, S.; Hehl, K.; Pichlmaier, U.; Schuhmann, U.
Konferenzbeitrag
1994Roughness and scattering measurements on thin films for UV/VIS applications
Duparre, A.; Kiesel, A.; Kaiser, N.; Truckenbrodt, H.; Schuhmann, U.
Konferenzbeitrag
1993Real-time detection of surface damage by direct assessment of the BRDF
Rothe, H.; Duparre, A.; Truckenbrodt, H.; Timm, M.
Konferenzbeitrag
1992Light scattering from the volume of optical thin films: theory and experiment
Duparre, A.; Kassam, S.; Hehl, K.; Bussemer, P.; Neubert, J.
Zeitschriftenaufsatz
1992Roughness and defect characterization of optical surfaces by light scattering measurements
Truckenbrodt, H.; Duparre, A.; Schuhmann, U.
Konferenzbeitrag
1990Interferometrische Verfahren zur Rauhheitsmessung
Broermann, E.; Pfeifer, T.
Zeitschriftenaufsatz