Fraunhofer-Gesellschaft

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Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2018Mess- und Sensortechnik für Industrie 4.0 - Materialien und Verfahren für komplexe Aufgaben
Brunner, Bernhard; Diegeler, Andreas; Ebert, Fabian; Friedrich, Holger; Gold, Lukas; Hartmann, Sarah; Rose, Klaus; Righi, Marie-Luise; Schubert, Lena; Steenhusen, Sönke
Aufsatz in Buch
2018Oberflächenprüfung und Qualitätsmanagement
Tran, Manh Hung
Konferenzbeitrag
2017Einfluss von rheologischen Eigenschaften auf die Qualität der Beschichtung
Boonen, Laura; Glanz, Carsten
Konferenzbeitrag
2017Inline-Oberflächenprüfung von Bahnware
Blug, Andreas; Saum, Norbert; Bertz, Alexander; Hofmann, Andreas
Aufsatz in Buch
2017Oberflächenprüfung und Qualitätsmanagement
Tran, Manh Hung
Konferenzbeitrag
2017Strukturierte Oberflächen unter der Lupe
Stahl, Janek
Zeitschriftenaufsatz
2016Automatisierte Oberflächen- und Volumenprüfsysteme aus einer Hand
Goetz, Jürgen; Getto, Sascha
Zeitschriftenaufsatz
2016Geprüfte Oberflächen. Sub-µm Inline-3D-Oberflächenprüfung im Sekundentakt
Fratz, Markus; Beckmann, Tobias; Bertz, Alexander; Carl, Daniel
Zeitschriftenaufsatz
2016Inspektion strukturierter Oberflächen
Eigenbrod, Hartmut
Aufsatz in Buch
2016Oberflächenprüfung und Qualitätsmanagement
Tran, Manh Hung
Konferenzbeitrag
2016Prüfungen an den Werkstücken und an Vorbehandlungsschichten
Tran, Manh Hung
Konferenzbeitrag
2016Selbstlernende Verfahren zur Prüfung von Oberflächen
Eigenbrod, Hartmut
Aufsatz in Buch
2016Wenn jede Oberfläche anders ist
Eigenbrod, Hartmut; Hüttel, Markus
Zeitschriftenaufsatz
2015Freie Oberflächen-Energie an 3D-Bauteilen mobil messen
Hilt, Michael; Wegmann, Volker
Zeitschriftenaufsatz
2014Anwendungsbeispiele zur Inspektion strukturierter Oberflächen
Eigenbrod, Hartmut
Konferenzbeitrag
2014Messen und Prüfen filmischer Teileverunreinigungen
Rochowicz, Markus
Vortrag
2014Oberflächenprüfung und Qualitätsmanagement
Hoffmann, Ulrich
Konferenzbeitrag
2014Präzise Fehlerdetektion mittels Deflektometrie. Beschichtungsfehlern mittels Spiegelung auf die Spur kommen
Heizmann, Michael; Werling, Stefan
Zeitschriftenaufsatz
2014Prozess- und Teilekontrolle zu Partikelschmutz
Rochowicz, Markus
Vortrag
2014Prüfungen an den Werkstücken und an Vorbehandlungsschichten
Tran, Manh Hung
Konferenzbeitrag
2013Messen und Prüfen filmischer Teileverunreinigungen
Rochowicz, Markus
Konferenzbeitrag
2013Multiskalige Oberflächen-Inspektion mit Wavelets und Deflektometrie
Ziebarth, M.; Le, T.-T.; Greiner, T.; Heizmann, Michael
Zeitschriftenaufsatz
2013Prozess- und Teilekontrolle zu Partikelschmutz
Rochowicz, Markus
Konferenzbeitrag
2012Mit der Infrarotspektroskopie dem Haftungsverlust auf der Spur
Hilt, Michael; Joos-Müller, Betina
Zeitschriftenaufsatz
2012Planungsbasierte Oberflächeninspektion in der Deflektometrie bei gegebener Referenzfläche mittels Greedy-Optimierung
Roschani, M.; Beyerer, Jürgen
Konferenzbeitrag
2011Fertigungsintegrierte Gewindeinspektion mit Superweitwinkel-Objektiven
Eigenbrod, Hartmut
Konferenzbeitrag
2011Fertigungsintegrierte Gewindeinspektion mit Superweitwinkel-Objektiven
Eigenbrod, Hartmut
Konferenzbeitrag
2010Fehler mit Digitalmikroskopen charakterisieren
Ondratschek, Dieter
Zeitschriftenaufsatz
2010Identifikation und Analyse von Kontaminationen und technischen Substanzen mittels IR-Spektroskopie
Pflüger, Marius
Konferenzbeitrag
2010Inspektion von strukturierten Oberflächen im sichtbaren und infraroten Bereich des Lichtspektrums
Eigenbrod, Hartmut
Konferenzbeitrag
2010Optische 3-D-Inline-Prüfung und Erkennung bei variierenden Bauteileigenschaften
Effenberger, Ira
Konferenzbeitrag
2010Reduktion von Bacillus pumilus auf Kupferoberflächen
Keller, Markus; Waldner, Alina
Zeitschriftenaufsatz
2008Den Lackfilmverlauf richtig analysieren
Ondratschek, Dieter
Zeitschriftenaufsatz
2008Handbuch zur Industriellen Bildverarbeitung
: Bauer, N.
Buch
2008Nachweis und Identifikation von Kontaminationen und technischen Substanzen mittels IR-Spektroskopie
Pflüger, Marius
Konferenzbeitrag
2007Handbuch zur Industriellen Bildverarbeitung
: Bauer, N.
Buch
2007In-Prozess-Kontaminationskontrolle mittels NIR-Systemen
Eigenbrod, Hartmut; Modrich, Kai-Udo
Aufsatz in Buch
2007Industrielle Bildverarbeitung für fertigungsintegriertes Messen und Prüfen
: Modrich, Kai-Udo (Leitung)
Tagungsband
2007Multiskalige Messstrategien für Mikrosysteme
Regin, Johan; Westkämper, Engelbert; Wiesendanger, Tobias; Zimmermann, Jan
Konferenzbeitrag
2007Oberflächenprüfung im industriellen Umfeld
Eigenbrod, Hartmut
Konferenzbeitrag
2007Unsichtbares sichtbar machen - Möglichkeiten und Visionen automatisierter Mess- und Prüfsysteme
Modrich, Kai-Udo
Konferenzbeitrag
20063-D-Oberflächenprüfung für die 100-Prozent-Prüfung im Fertigungsprozess
Dunker, T.; Hüttel, M.
Aufsatz in Buch
2006Einfluss des Agglomerationsverhaltens von Polierkörnern, Glasabrieb und verwendetem Poliermittelträger auf das Polierergebnis optischer Gläser
Conradt, R.
Bericht
2006Fehler vermeiden durch Inline-Monitoring
Markus, S.; Wilken, R.; Dieckhoff, S.
Zeitschriftenaufsatz
2006Fertigen unter reinen Bedingungen
 
Tagungsband
2006In-Prozess-Kontaminationskontrolle mittels NIR-Systemen
Modrich, K.-U.; Schöbel, J.
Aufsatz in Buch
2006Leitfaden zur Inspektion von Oberflächen mit Bildverarbeitung
: Bauer, N.
Buch
2006Multiskalige Mess- und Prüfstrategien in der Mikro- und Nanomesstechnik
Westkämper, E.; Osten, W.; Regin, J.; Wiesendanger, T.
Konferenzbeitrag
2006Multiskalige Messstrategien für die Mikrosystemtechnik
Regin, J.; Neher, J.; Pannekamp, J.; Westkämper, E.; Wiesendanger, T.; Osten, W.
Konferenzbeitrag
2006Oberflächenprüfung im industriellen Umfeld
Pannekamp, J.
Konferenzbeitrag
2006Schnelle 3-D-Prüfung und Objekterkennung im Fertigungsprozess
Effenberger, I.
Konferenzbeitrag
2005Adaptive Verfahren zur Bewertung texturierter Oberflächen
Pannekamp, J.
Dissertation
2005Automatisiertes, stoffschlüssiges Fügen folienisolierter Flachleiter mit Oberflächenkontamination
Adrian, J.
Dissertation
2005Kleine Fehler kommen groß raus
Dunker, T.; Hüttel, M.
Zeitschriftenaufsatz
2002A field mill based on the modular MEMs framework Match-X
Matuscheck, P.; Evers, J.; Schäfer, W.; Nienhaus, M.; Kleen, S.
Konferenzbeitrag
2002Leitfaden zu praktischen Anwendungen der Bildverarbeitung
: Berndt, D.; Bazer, N.
Buch
2002Optisches Prüfverfahren zur in-situ-Detektion ölbasierter Kontaminationsfilme auf technischen Metalloberflächen
Modrich, K.-U.
Dissertation
2002Tribologische Sub-Mikrometer Schichten für Mikrosysteme
Bandorf, R.; Lüthje, H.
Zeitschriftenaufsatz
2001Intelligenter Robotergreifer prüft Sauberkeit während des Produktionsprozesses
Modrich, K.-U.
Konferenzbeitrag
2001Schnelle Qualitätskontrolle: Restverschmutzungen im laufenden Produktionsprozess entdecken
Modrich, K.-U.
Zeitschriftenaufsatz
2000Adaptex: Adaptive Bewertung texturierter Oberflächen
Pannekamp, J.; Melchior, K.; Westkämper, E.
Konferenzbeitrag
1999Multisensorielle Prüfung von Freiformflächen
Lang, P.
Dissertation
1999Theoretical considerations for a new tolerance system to characterise technical surfaces in the micro- and nanometer scale
Westkämper, E.; Kraus, M.
Konferenzbeitrag
1998Theoretical considerations for a new tolerance system to characterise technical surfaces in the micro- and nanometer scale
Westkämper, E.; Kraus, M.
Konferenzbeitrag
1997Berührungslose Gestaltvermessung von Mikrostrukturen durch Fokussuche
Scheuermann, T.
Dissertation
1997Quality Improvement in the Manufacture of Pressed Parts for Automobiles by means of Measuring Techniques
Westkämper, E.; Korn, G.; Menge, M.; Freese, J.; Westerling, C.
Konferenzbeitrag
1996Die Anwendung des Niederfrequenz-Wirbelstromprüfverfahrens als diversitäre Prüftechnik für die Plattierungsprüfung vo Reaktordruckbehältern
Becker, R.; Kröning, M.; Lucht, B.; Csapo, G.
Konferenzbeitrag
1996Ultraschall-Momentaufnahmen. Ein neuer Ansatz zum Studium der Wellenausbreitung und zur Charakterisierung oberflächennaher Defekte
Köhler, B.
Konferenzbeitrag
1996Ein Verfahren zur Bestimmung von Lage und Umfang von Volumendefekten in Echtzeit am Beispiel der Gußteileprüfung
Hanke, R.F.
Dissertation
1995Automatische Sichtprüfung von metallischen Oberflächen mit neuronalen Netzen
Schramm, U.; Spinnler, K.P.
Aufsatz in Buch
1995Licht untersucht dünnste Schichten
Fanter, D.; Possart, W.; Hennemann, O.-D.
Zeitschriftenaufsatz
1995Oberflächenprüfung mit neuronalen Netzen
Abele, A.
Konferenzbeitrag
1995Prüfung von Keramikoberflächen mit Wärmewellenmikroskopie
Netzelmann, U.; Zhang, H.
Konferenzbeitrag
1994Qualitätssicherung in Lackierbetrieben: Flexibles Prüfsystem für die Oberflächentechnik
Scheibe, A.; Svejda, P.
Aufsatz in Buch
1993Anwendungsstand künstlicher neuronaler Netze in der Automatisierungstechnik. Teil 4: Anwendung neuronaler Netze in der Bildverarbeitung
Beutelschieß, F.; Graulich, M.; Spinnler, K.P.
Zeitschriftenaufsatz
1993Automatisierung visueller Oberflächenprüfung mit Methoden der industriellen Bildverarbeitung
Kille, K.
Konferenzbeitrag
1993Belehrbares Bildauswertungssystem zur Automatisierung der Sichtprüfung
Adam, W.; Nickolay, B.
Zeitschriftenaufsatz
1993Measuring as a CAD application. Measuring information for the inspection of free formed surfaces
Roth-Koch, S.
Konferenzbeitrag
1992Automation of visual surface inspection for quality control using fractal geometry
Müssigmann, U.
Konferenzbeitrag
1992Automatisierte visuelle Inspektion auf Basis einer hierarchischen Bildauflösung
Vollmerhaus, D.; Nickolay, B.
Zeitschriftenaufsatz
1992CATIA-Applikation MESSEN. Meßdaten für den Soll-Ist-Vergleich von Freiformflächen
Haller, T.; Roth, S.; Steger, W.
Zeitschriftenaufsatz
1992EMUS-Gerätetechnik - Stand, Anwendungen, Entwicklungstendenzen
Hübschen, G.; Neuschwander, R.; Salzburger, H.J.; Wilbrand, A.
Konferenzbeitrag
1992Keine Chance für Lunker und Kratzer
Neubauer, C.; Schramm, U.
Zeitschriftenaufsatz
1992Meßergebnisse werden übertragbar. Untersuchung der Partikelreinheit von Werkstück- und Geräteoberflächen
Warnecke, H.-J.; Klumpp, B.
Zeitschriftenaufsatz
1992Neural network image segmentation for automated visual inspection
Schramm, U.; Spinnler, K.P.
Konferenzbeitrag
1991Automatische Sichtprüfung mit Industrie-PC
Bauer, N.; Schramm, U.; Neubauer, C.
Aufsatz in Buch
1991Bildverarbeitungsverfahren zur Inspektion technischer Oberflächen
Müssigmann, U.
Konferenzbeitrag
1991Konfigurieren und Trainieren von mehrschichtigen Perzeptron-Netzen
Schramm, U.; Braun, W.
Konferenzbeitrag
1991Merkmalorientiertes Prüfen freigeformter Oberflächen durch Kopplung von CAD- und Meßtechnik
Roth, S.
Zeitschriftenaufsatz
1991Schnelle Blicke zum Verborgenen
Bauer, N.; Schramm, U.; Neubauer, C.
Zeitschriftenaufsatz
1989Bildauswertesystem zur automatisierten Oberflächenprüfung
Welz, K.; Nickolay, B.
Zeitschriftenaufsatz
1989Bildauswertesystem zur Oberflächenprüfung auf der Basis von A-priori-Wissen
Adam, W.; Nickolay, B.; Welz, K.
Zeitschriftenaufsatz
1989Bildverarbeitungsverfahren zur Erkennung von Oberflächenfehlern
Adam, W.; Nickolay, B.
Zeitschriftenaufsatz
1989Blickfang - Bildauswertesysteme zur Prozeßüberwachung und Qualitätskontrolle
Adam, W.; Nickolay, B.
Zeitschriftenaufsatz
1989Entwicklung eines koppelmittelfreien Ultraschall-Prüfsystems zur wiederkehrenden Prüfung des innenoberflächennahen Bereichs der Tankschweißnähte 1 und 6 des SNR 300
Hübschen, G.; Salzburger, H.J.
Konferenzbeitrag
1988Automatische Prüfung der Oberfläche und Form bei der Verpackung von Dragees und der Verarbeitung von Holz
Geißelmann, H.
Konferenzbeitrag
1988Ultraschallprüfung auf senkrecht orientierte Risse durch Ausnutzung der Wellenumwandlung -Tandemersatzprüfung-
Hoffmann, R.; Gebhardt, W.; Walte, F.
Konferenzbeitrag
1988Verfahren und Geräte zur schnellen automatischen Prüfung texturierter Oberflächen
Tatari, S.; Paul, D.
Zeitschriftenaufsatz
1988Zerstörungsfreie Prüfung mit tangential polarisierten Transversalwellen. Anwendungstechnische Ergebnisse und weiteres Potential
Hübschen, G.
Konferenzbeitrag
1987Messen von Schweißeigenspannungen mit Epsilon-Feldanalyse und Ultraschallverfahren
Peiter, A.; Schneider, E.; Wern, H.
Zeitschriftenaufsatz
1984Optische Verfahren zur Oberflaechenpruefung
Ahlers, R.-J.
Zeitschriftenaufsatz