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2018 | Akustische Qualitätskontrolle mit künstlicher Intelligenz Liebetrau, Judith; Grollmisch, Sascha; Clauß, Tobias | Journal Article |
2018 | Mit maschinellem Lernen zur intelligenten Produktion Grollmisch, Sascha | Presentation |
2010 | Terahertz-Wellen - ein neuer Spektralbereich für die industrielle Messtechnik Ellrich, F.; Klier, J.; Jonuscheit, J.; Weinland, T.; Beigang, R. | Journal Article |
2006 | 94 GHz radar sensor for process control and imaging Sklarczyk, C.; Surkov, A.S.; Langenberg, K.J.; Mayer, K. | Conference Paper |
2006 | Nondestructive and contactless materials characterization with the help of microwave sensors Sklarczyk, C.; Melev, V.; Pinchuk, R. | Conference Paper |
2005 | Aktive Thermische Prüftechniken zur Charakterisierung von Keramikbauteilen Walle, G. | Conference Paper |
2004 | Quality assurance using thermography Meinlschmidt, P. | Journal Article |
2002 | Ein abstandskorrigierter Mikrowellensensor Sklarczyk, C.; Kühn, M. | Conference Paper |
2001 | Materials characterization and defect detection with millimeter wave radar sensor in near field Sklarczyk, C.; Schlechtweg, M. | Conference Paper |
2000 | Aufbau eines berührungslos arbeitenden und flächig abrasternden Mess- und Prüfsystems zur Charakterisierung nichtleitender und schwach leitender Prüfobjekte auf der Basis von Mikrowellen-Sensoren Tschuncky, R. | Thesis |
1999 | Berührungslose Charakterisierung von Schichten durch thermographische Verfahren am Beispiel von Prüfproblemen aus der Luft- und Raumfahrt Meyendorf, N.; Karpen, W.; Netzelmann, U.; Vetterlein, T.; Walle, G. | Conference Paper |
1999 | Schmutz macht sich dampfend aus dem Staub Lotze, R.; Wissenbach, K. | Journal Article |
1998 | Schichten charakterisieren Sklarczyk, C.; Netzelmann, U.; Ehlen, F. | Journal Article |