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| 2018 | Gasanalytik, Schichtdickenmessungen und Stabilitätsuntersuchungen an kostengünstigen Elektroden für stationäre Energiespeicher
Petit, Jan
: Tübke, Jens (Betreuer); Pfeifer, Peter (Gutachter); Hagen, Marcus (Betreuer) | Master Thesis |
| 2016 | Im Durchlauf: Inline-Prüfung von gekrümmten Oberflächen und Beschichtungen
Negara, Christian | Journal Article |
| 2016 | Non-destructive measurement of thickness and refractive index of multilayer coating on metal substrate
Nguyen, Dinh T.; Weber, Katharina; Wegmann, Volker; Hernandez, Yves | Conference Paper |
| 2014 | Zerstörungsfreie Analyse
Jonuscheit, Joachim | Journal Article |
| 2011 | Optische Schichtdickenmessung von funktionellen Nassbeschichtungen auf Kunststofffolien
Teuscher, N.; Schubert, W.; Heilmann, A. | Journal Article |
| 2011 | Optische Schichtdickenmessung von funktionellen Nassbeschichtungen auf Kunststofffolien (Teil 2)
Teuscher, N.; Schubert, W.; Heilmann, A. | Journal Article |
| 2011 | Pulverlacke auf Anwendung trimmen
Ondratschek, Dieter | Journal Article |
| 2009 | Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA)
Romankiewicz, Katja | Conference Paper |
| 2009 | Zwischen Mikrowellen und Infrarot: Terahertz-Wellen
Theuer, M.; Molter, D.; Rahm, M.; Beigang, R. | Journal Article |
| 2008 | Investigation of thin oxide films on titanium for capacitor applications
Schroth, S.; Schneider, M.; Mayer-Uhma, T.; Michaelis, A.; Klemm, V. | Conference Paper |
| 2007 | Algorithmik zur Auswertung von Thermographiebildern bei der Lock-In- und Impulsthermographie
Netzelmann, U. | Book Article |
| 2005 | Aktive Thermische Prüftechniken zur Charakterisierung von Keramikbauteilen
Walle, G. | Conference Paper |
| 2003 | Überwachung und Steuerung von Lackierprozessen - Flüssiglackbeschichtung - Spritzlackieren
Domnick, J. | Conference Paper |
| 2002 | Überwachung und Steuerung von Lackierprozessen - Flüssiglackbeschichtung - Spritzlackieren
Domnick, J. | Conference Paper |
| 1999 | Zerstörungsfreie Prüfung mittels thermographischer Verfahren
Walle, G.; Karpen, W.; Netzelmann, U.; Rösner, H.; Meyendorf, N. | Journal Article |
| 1998 | Prüfung mechanisch-technologischer Lackschichteigenschaften
Scheibe, A.; Groß, O. | Conference Paper |
| 1998 | Der Schicht auf den Grund gehen
Markschläger, P.; Mann, D.; Metzner, M. | Journal Article |
| 1997 | Implementierung und Bewertung verschiedener Modelle zur Beschreibung von Degradationsprozessen in höchstintegrierten Bauelementen zur Lebensdauerprognose integrierter Schaltungen
Lange, U. | Thesis |
| 1997 | Kalottenschliff
Morlok, O.; Scheibe, A.; Truger, T. | Journal Article |
| 1996 | Sensoren, Aktoren auf der Basis eines Sol- Gel - Moduls
Otschik, P.; Kluge, A.; Grimme, R.; Schönecker, A.; Schumacher, A.; Gesemann, H.J. | Conference Paper |
| 1996 | Temperature measurement at RTP facilities. An overview
Wagner, J.; Böbel, F.G. | Conference Paper |
| 1995 | In situ film thickness and temperature control of molecular beam epitaxy growth by pyrometric interferometry
Böbel, F.G.; Möller, H.; Hertel, B.; Grothe, H.; Schraud, G.; Schröder, S.; Chow, P. | Journal Article |
| 1995 | In situ observation of chemical vapour deposition growth of epitaxial SiGe thin films by reflexion supported pyrometric interferometry
Ritter, G.; Tillack, B.; Weidner, M.; Zaumseil, P.; Böbel, F.G.; Hertel, B.; Möller, H. | Journal Article |
| 1995 | Optimierung von Bedampfungsprozessen
Gärtner, T. | Book |
| 1995 | Pyrometrische Interferometrie. Ein neues Meßverfahren zur in-situ-Prozeßkontrolle
Böbel, F.G. | Dissertation |
| 1995 | Temperature controlling with reflection supported interferometry (RSPI) at rapid thermal chemical vapor deposition-facilities (RTCVD)
Märitz, J.; Möller, H.; Böbel, F.G.; Ritter, G.; Weusthof, M.H.H.; Hollemann, J. | Conference Paper |
| 1994 | In situ film thickness and temperature monitoring of MBE-growth of vertical cavity surface emitting lasers (VCSELs) by reflexion supported pyrometric interferometry (RSPI)
Böbel, F.G. | Book |
| 1994 | In situ film-thickness and temperature monitor
Böbel, F.G.; Möller, H.; Hertel, B.; Ritter, G.; Chow, P. | Journal Article |
| 1993 | Pyrometrische Interferometrie: Ein neues Werkzeug zur Prozeßkontrolle in schichtabscheidenden Prozessen
Möller, H.; Böbel, F.G. | Conference Paper |
| 1993 | Reflexion supported pyrometric interferometry. A new tool for in situ, real time temperature control in semiconductor manufacturing
Böbel, F.G.; Möller, H.; Preiß, W. | Conference Paper |
| 1992 | 8. Deutsche Kunststoff-Finish. "Praxis-Forum" Tagung
: Hoffmann, U. | Conference Proceedings |
| 1992 | Die EPS-Praxis '92
Kleber, W.; Mendler, H.; Strohbeck, U. | Conference Proceedings |
| 1992 | Qualitätssicherung und Fehlerreduzierung. Schichtdickenmeßtechnik
Svejda, P. | Book Article |
| 1991 | Characterization of thin films and multilayers by use of electron beam excited X-ray spectrometry
Willich, P. | Book |
| 1991 | EPMA - A versatile technique for the characterization of thin films and layered structures
Willich, P. | Journal Article |
| 1991 | EPMA of surface oxide films
Willich, P.; Schiffmann, K.I. | Journal Article |
| 1991 | In-situ film thickness measurements by using pyrometric interferometry
Boebel, F.G.; Bonnes, U.; Frohmader, K.P. | Conference Paper |
| 1991 | Qualitätssicherung und Fehlerreduzierung. Schichtdickenmeßtechnik
Svejda, P. | Book Article |
| 1991 | Qualitätssicherung und Kostenreduzierung durch Steuerung und Überwachung automatisierter Spritz-Lackierprozesse
Svejda, P. | Conference Paper |
| 1991 | Schichtdickenmessung im automatisierten Lackierbetrieb
Svejda, P. | Conference Paper |
| 1990 | Photometrische Lackschicht-Dichtebestimmung
Stahlmann, H.-D.; Rehfeld, A.; Dülen, G. | Journal Article |
| 1989 | Fortschrittliche Schichtdickenmesstechnik
Svejda, P. | Book Article |