| | |
---|
2018 | Gasanalytik, Schichtdickenmessungen und Stabilitätsuntersuchungen an kostengünstigen Elektroden für stationäre Energiespeicher Petit, Jan : Tübke, Jens (Betreuer); Pfeifer, Peter (Gutachter); Hagen, Marcus (Betreuer) | Master Thesis |
2016 | Im Durchlauf: Inline-Prüfung von gekrümmten Oberflächen und Beschichtungen Negara, Christian | Journal Article |
2016 | Non-destructive measurement of thickness and refractive index of multilayer coating on metal substrate Nguyen, Dinh T.; Weber, Katharina; Wegmann, Volker; Hernandez, Yves | Conference Paper |
2014 | Zerstörungsfreie Analyse Jonuscheit, Joachim | Journal Article |
2011 | Optische Schichtdickenmessung von funktionellen Nassbeschichtungen auf Kunststofffolien Teuscher, N.; Schubert, W.; Heilmann, A. | Journal Article |
2011 | Optische Schichtdickenmessung von funktionellen Nassbeschichtungen auf Kunststofffolien (Teil 2) Teuscher, N.; Schubert, W.; Heilmann, A. | Journal Article |
2011 | Pulverlacke auf Anwendung trimmen Ondratschek, Dieter | Journal Article |
2009 | Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA) Romankiewicz, Katja | Conference Paper |
2009 | Zwischen Mikrowellen und Infrarot: Terahertz-Wellen Theuer, M.; Molter, D.; Rahm, M.; Beigang, R. | Journal Article |
2008 | Investigation of thin oxide films on titanium for capacitor applications Schroth, S.; Schneider, M.; Mayer-Uhma, T.; Michaelis, A.; Klemm, V. | Conference Paper, Journal Article |
2007 | Algorithmik zur Auswertung von Thermographiebildern bei der Lock-In- und Impulsthermographie Netzelmann, U. | Book Article |
2005 | Aktive Thermische Prüftechniken zur Charakterisierung von Keramikbauteilen Walle, G. | Conference Paper |
2003 | Überwachung und Steuerung von Lackierprozessen - Flüssiglackbeschichtung - Spritzlackieren Domnick, J. | Conference Paper |
2002 | Überwachung und Steuerung von Lackierprozessen - Flüssiglackbeschichtung - Spritzlackieren Domnick, J. | Conference Paper |
1999 | Zerstörungsfreie Prüfung mittels thermographischer Verfahren Walle, G.; Karpen, W.; Netzelmann, U.; Rösner, H.; Meyendorf, N. | Journal Article |
1998 | Prüfung mechanisch-technologischer Lackschichteigenschaften Scheibe, A.; Groß, O. | Conference Paper |
1998 | Der Schicht auf den Grund gehen Markschläger, P.; Mann, D.; Metzner, M. | Journal Article |
1997 | Implementierung und Bewertung verschiedener Modelle zur Beschreibung von Degradationsprozessen in höchstintegrierten Bauelementen zur Lebensdauerprognose integrierter Schaltungen Lange, U. | Thesis |
1997 | Kalottenschliff Morlok, O.; Scheibe, A.; Truger, T. | Journal Article |
1996 | Sensoren, Aktoren auf der Basis eines Sol- Gel - Moduls Otschik, P.; Kluge, A.; Grimme, R.; Schönecker, A.; Schumacher, A.; Gesemann, H.J. | Conference Paper |
1996 | Temperature measurement at RTP facilities. An overview Wagner, J.; Böbel, F.G. | Conference Paper |
1995 | In situ film thickness and temperature control of molecular beam epitaxy growth by pyrometric interferometry Böbel, F.G.; Möller, H.; Hertel, B.; Grothe, H.; Schraud, G.; Schröder, S.; Chow, P. | Journal Article |
1995 | In situ observation of chemical vapour deposition growth of epitaxial SiGe thin films by reflexion supported pyrometric interferometry Ritter, G.; Tillack, B.; Weidner, M.; Zaumseil, P.; Böbel, F.G.; Hertel, B.; Möller, H. | Conference Paper |
1995 | Optimierung von Bedampfungsprozessen Gärtner, T. | Book |
1995 | Pyrometrische Interferometrie. Ein neues Meßverfahren zur in-situ-Prozeßkontrolle Böbel, F.G. | Dissertation |
1995 | Temperature controlling with reflection supported interferometry (RSPI) at rapid thermal chemical vapor deposition-facilities (RTCVD) Märitz, J.; Möller, H.; Böbel, F.G.; Ritter, G.; Weusthof, M.H.H.; Hollemann, J. | Conference Paper |
1994 | In situ film thickness and temperature monitoring of MBE-growth of vertical cavity surface emitting lasers (VCSELs) by reflexion supported pyrometric interferometry (RSPI) Böbel, F.G. | Book |
1994 | In situ film-thickness and temperature monitor Böbel, F.G.; Möller, H.; Hertel, B.; Ritter, G.; Chow, P. | Journal Article |
1993 | Pyrometrische Interferometrie: Ein neues Werkzeug zur Prozeßkontrolle in schichtabscheidenden Prozessen Möller, H.; Böbel, F.G. | Conference Paper |
1993 | Reflexion supported pyrometric interferometry. A new tool for in situ, real time temperature control in semiconductor manufacturing Böbel, F.G.; Möller, H.; Preiß, W. | Conference Paper |
1992 | 8. Deutsche Kunststoff-Finish. "Praxis-Forum" Tagung : Hoffmann, U. | Conference Proceedings |
1992 | Die EPS-Praxis '92 Kleber, W.; Mendler, H.; Strohbeck, U. | Conference Proceedings |
1992 | Qualitätssicherung und Fehlerreduzierung. Schichtdickenmeßtechnik Svejda, P. | Book Article |
1991 | Characterization of thin films and multilayers by use of electron beam excited X-ray spectrometry Willich, P. | Book |
1991 | EPMA - A versatile technique for the characterization of thin films and layered structures Willich, P. | Conference Paper |
1991 | EPMA of surface oxide films Willich, P.; Schiffmann, K.I. | Conference Paper |
1991 | In-situ film thickness measurements by using pyrometric interferometry Boebel, F.G.; Bonnes, U.; Frohmader, K.P. | Conference Paper |
1991 | Qualitätssicherung und Fehlerreduzierung. Schichtdickenmeßtechnik Svejda, P. | Book Article |
1991 | Qualitätssicherung und Kostenreduzierung durch Steuerung und Überwachung automatisierter Spritz-Lackierprozesse Svejda, P. | Conference Paper |
1991 | Schichtdickenmessung im automatisierten Lackierbetrieb Svejda, P. | Conference Paper |
1990 | Photometrische Lackschicht-Dichtebestimmung Stahlmann, H.-D.; Rehfeld, A.; Dülen, G. | Journal Article |
1989 | Fortschrittliche Schichtdickenmesstechnik Svejda, P. | Book Article |