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2012 | Untersuchung der Ultraschallabsorption in ermüdungsbeanspruchten Werkstoffen mittels Laserultraschall Dugan, Sandra | Dissertation |
2008 | Corrosion in close-up Plagemann, P. | Journal Article |
2008 | Schwingungsanregung von Sensorbalken in der Akustischen Rasterkraftmikroskopie durch Raumladungszonen und Prüfung von dünnen Piezoelektrischen Filmen mittels Ultraschall-Piezomode im Hochdurchsatz Schwarz, K. | Dissertation |
2007 | Sind taktile und optische Rauheitsmessungen vergleichbar? Dietzsch, M.; König, N.; Schmitt, R.; Seewig, J. | Conference Paper |
2007 | Surface roughness evolution and growth mechanism of carbon films from hyperthermal species Lifshitz, Y.; Edrei, R.; Hoffman, A.; Grossman, E.; Lempert, G.D.; Berthold, J.; Schultrich, B.; Jäger, H.-U. | Conference Paper, Journal Article |
2006 | Microtribological behaviour of thin DLC films using different testing methods Bandorf, R.; Lüthje, H.; Staedler, T. | Journal Article |
2005 | Entwicklung einer Kalibrierrichtlinie für Rastersondenmikroskope Dziomba, T.; Flemming, M.; Duparre, A.; Koenders, L.; Wilkening, G. | Journal Article |
2002 | NanoDAC - A powerful method for nanomechanical analysis of polymeric materials Keller, J.; Vogel, D.; Bauer, M.; Michel, B. | Conference Paper |
2001 | Messverfahren zur Untersuchung optischer Oberflächen für den VUV- bis IR-Bereich Duparre, A.; Notni, G. | Conference Paper |
1999 | Messung und Untersuchung der Reibung und Schmierung auf mikrokopischer Skala mittels Rasterkraftmikroskopie Kullenberg, E. | Thesis |
1998 | AFM and light scattering measurements of optical thin films for applications in the UV spectral region Jakobs, S.; Duparre, A.; Truckenbrodt, H. | Journal Article |
1997 | Characterization of SiO2 protective coatings on polycarbonate Jakobs, S.; Schulz, U.; Duparre, A.; Kaiser, N. | Journal Article |
1997 | Influence of substrate surface and film roughness on the quality of optical coatings for the UV spectral region Duparre, A.; Jakobs, S.; Kaiser, N. | Conference Paper |
1997 | Untersuchung von metallhaltigen amorphen Kohlenwasserstoff-Nanokompositen mittels Rastersondenmikroskopie und Röntgenkleinwinkelstreuung Fryda, M.; Goerigk, G.; Schiffmann, K.I. | Journal Article, Conference Paper |
1997 | Zerstörungsfreie Charakterisierung tribologisch beanspruchter Keramikoberflächen in Abhängigkeit von ihrer Bearbeitung und Belastung Arnold, W.; Fassbender, S.; Janser, K.; Rabe, U.; Scherer, V. | Conference Paper |
1996 | Analysis of interface and volume inhomogenities in a multilayer system by light scattering methods Pichlmaier, S.; Hehl, K.; Schuhmann, U.; Duparre, A.; Gliech, S. | Conference Paper |
1996 | Combination of surface characterization techniques for investigating optical thin-film components Duparre, A.; Jakobs, S. | Journal Article |
1996 | Dependence of the surface morphology and scattering of optical coatings on film material, substrate roughness, and deposition process Jakobs, S.; Feigl, T.; Duparre, A. | Conference Paper |
1996 | Hochauflösende Materialcharakterisierung mit mikroskopischen Techniken Altpeter, I.; Fassbender, S.; Netzelmann, U.; Nichtl-Pecher, W. | Conference Paper |
1996 | Optical scattering and surface microstructure of thin films for laser application Duparre, A.; Kiesel, A.; Gliech, S. | Journal Article |
1996 | Roughness analysis of optical films and substrates by atomic force microscopy Duparre, A.; Ruppe, C. | Journal Article |
1995 | Acoustic microscopy by atomic force microscopy Rabe, U.; Arnold, W. | Book Article |
1995 | AFM - Abbildung feinster Strukturen Gesang, T.; Höper, R.; Possart, W.; Hennemann, O.-D. | Journal Article |
1995 | AFM investigations of the initial stages of prepolymer film growth on aluminium Gesang, T.; Höper, R.; Dieckhoff, S.; Fanter, D.; Hartwig, A.; Possart, W.; Hennemann, O.-D. | Journal Article |
1995 | Atomic force microscopy on cross-section of optimal coatings: a new method Duparre, A.; Ruppe, C.; Pischow, K.A.; Adamik, M.; Barna, P.B. | Journal Article |
1995 | Comparative film thickness determination by atomic force microscopy and ellipsometry for ultrathin prepolymer films Gesang, T.; Fanter, D.; Höper, R.; Possart, W.; Hennemann, O.-D. | Journal Article |
1995 | Imaging elastic sample properties with an atomic force microscope operating in the Tapping Mode Höper, R.; Gesang, T.; Possart, W.; Hennemann, O.-D.; Boseck, S. | Journal Article |
1995 | Measurement of microtopography and surface properties of micromchined surfaces employing atomic force microscopy and near-field acoustic microscopy Scherer, V.; Rabe, U.; Arnold, W. | Conference Paper |
1995 | Prepolymer film growth by adsorption out of solution on silicon and aluminium. An atomic force microscope study Gesang, T.; Höper, R.; Dieckhoff, S.; Hartwig, A.; Possart, W.; Hennemann, O.-D. | Journal Article |
1994 | Acoustic microscopy by atomic force microscopy. Rabe, U.; Arnold, W. | Journal Article |
1994 | Atomic force microscopy at MHz frequencies Arnold, W.; Rabe, U. | Journal Article |
1994 | Charakterisierung ultrapräzisionsbearbeiteter Materialien mittels Rastersonden-Mikroskopie Rabe, U.; Arnold, W.; Scherer, V.; Riemer, O.; Preuß, W.; Brinksmeier, E. | Conference Paper |
1994 | Charakterisierung ultrapräzisionsbearbeiteter Materialien mittels Rastersonden-Mikroskopie (ASPE) Rabe, U.; Arnold, W.; Scherer, V.; Fechner, R.; Schindler, A.; Riemer, O.; Preuß, W.; Brinksmeier, E. | Conference Paper |
1994 | Generic detrending of surface profiles Duparre, A.; Rothe, H.; Jakobs, S. | Journal Article |
1994 | Herstellung und Eigenschaften von PZT-Dickschichten Seffner, L.; Fischer, K.; Häßler, W.; Gesemann, H.J. | Conference Paper |
1994 | Investigation of heteroepitaxial diamond films by scanning tunneling and atomic force microscopy Jiang, X.; Schiffmann, K.I. | Journal Article |
1994 | Roughness and scattering measurements on thin films for UV/VIS applications Duparre, A.; Kiesel, A.; Kaiser, N.; Truckenbrodt, H.; Schuhmann, U. | Conference Paper |