Fraunhofer-Gesellschaft

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Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2012Untersuchung der Ultraschallabsorption in ermüdungsbeanspruchten Werkstoffen mittels Laserultraschall
Dugan, Sandra
Dissertation
2008Corrosion in close-up
Plagemann, P.
Journal Article
2008Schwingungsanregung von Sensorbalken in der Akustischen Rasterkraftmikroskopie durch Raumladungszonen und Prüfung von dünnen Piezoelektrischen Filmen mittels Ultraschall-Piezomode im Hochdurchsatz
Schwarz, K.
Dissertation
2007Sind taktile und optische Rauheitsmessungen vergleichbar?
Dietzsch, M.; König, N.; Schmitt, R.; Seewig, J.
Conference Paper
2007Surface roughness evolution and growth mechanism of carbon films from hyperthermal species
Lifshitz, Y.; Edrei, R.; Hoffman, A.; Grossman, E.; Lempert, G.D.; Berthold, J.; Schultrich, B.; Jäger, H.-U.
Conference Paper, Journal Article
2006Microtribological behaviour of thin DLC films using different testing methods
Bandorf, R.; Lüthje, H.; Staedler, T.
Journal Article
2005Entwicklung einer Kalibrierrichtlinie für Rastersondenmikroskope
Dziomba, T.; Flemming, M.; Duparre, A.; Koenders, L.; Wilkening, G.
Journal Article
2002NanoDAC - A powerful method for nanomechanical analysis of polymeric materials
Keller, J.; Vogel, D.; Bauer, M.; Michel, B.
Conference Paper
2001Messverfahren zur Untersuchung optischer Oberflächen für den VUV- bis IR-Bereich
Duparre, A.; Notni, G.
Conference Paper
1999Messung und Untersuchung der Reibung und Schmierung auf mikrokopischer Skala mittels Rasterkraftmikroskopie
Kullenberg, E.
Thesis
1998AFM and light scattering measurements of optical thin films for applications in the UV spectral region
Jakobs, S.; Duparre, A.; Truckenbrodt, H.
Journal Article
1997Characterization of SiO2 protective coatings on polycarbonate
Jakobs, S.; Schulz, U.; Duparre, A.; Kaiser, N.
Journal Article
1997Influence of substrate surface and film roughness on the quality of optical coatings for the UV spectral region
Duparre, A.; Jakobs, S.; Kaiser, N.
Conference Paper
1997Untersuchung von metallhaltigen amorphen Kohlenwasserstoff-Nanokompositen mittels Rastersondenmikroskopie und Röntgenkleinwinkelstreuung
Fryda, M.; Goerigk, G.; Schiffmann, K.I.
Journal Article, Conference Paper
1997Zerstörungsfreie Charakterisierung tribologisch beanspruchter Keramikoberflächen in Abhängigkeit von ihrer Bearbeitung und Belastung
Arnold, W.; Fassbender, S.; Janser, K.; Rabe, U.; Scherer, V.
Conference Paper
1996Analysis of interface and volume inhomogenities in a multilayer system by light scattering methods
Pichlmaier, S.; Hehl, K.; Schuhmann, U.; Duparre, A.; Gliech, S.
Conference Paper
1996Combination of surface characterization techniques for investigating optical thin-film components
Duparre, A.; Jakobs, S.
Journal Article
1996Dependence of the surface morphology and scattering of optical coatings on film material, substrate roughness, and deposition process
Jakobs, S.; Feigl, T.; Duparre, A.
Conference Paper
1996Hochauflösende Materialcharakterisierung mit mikroskopischen Techniken
Altpeter, I.; Fassbender, S.; Netzelmann, U.; Nichtl-Pecher, W.
Conference Paper
1996Optical scattering and surface microstructure of thin films for laser application
Duparre, A.; Kiesel, A.; Gliech, S.
Journal Article
1996Roughness analysis of optical films and substrates by atomic force microscopy
Duparre, A.; Ruppe, C.
Journal Article
1995Acoustic microscopy by atomic force microscopy
Rabe, U.; Arnold, W.
Book Article
1995AFM - Abbildung feinster Strukturen
Gesang, T.; Höper, R.; Possart, W.; Hennemann, O.-D.
Journal Article
1995AFM investigations of the initial stages of prepolymer film growth on aluminium
Gesang, T.; Höper, R.; Dieckhoff, S.; Fanter, D.; Hartwig, A.; Possart, W.; Hennemann, O.-D.
Journal Article
1995Atomic force microscopy on cross-section of optimal coatings: a new method
Duparre, A.; Ruppe, C.; Pischow, K.A.; Adamik, M.; Barna, P.B.
Journal Article
1995Comparative film thickness determination by atomic force microscopy and ellipsometry for ultrathin prepolymer films
Gesang, T.; Fanter, D.; Höper, R.; Possart, W.; Hennemann, O.-D.
Journal Article
1995Imaging elastic sample properties with an atomic force microscope operating in the Tapping Mode
Höper, R.; Gesang, T.; Possart, W.; Hennemann, O.-D.; Boseck, S.
Journal Article
1995Measurement of microtopography and surface properties of micromchined surfaces employing atomic force microscopy and near-field acoustic microscopy
Scherer, V.; Rabe, U.; Arnold, W.
Conference Paper
1995Prepolymer film growth by adsorption out of solution on silicon and aluminium. An atomic force microscope study
Gesang, T.; Höper, R.; Dieckhoff, S.; Hartwig, A.; Possart, W.; Hennemann, O.-D.
Journal Article
1994Acoustic microscopy by atomic force microscopy.
Rabe, U.; Arnold, W.
Journal Article
1994Atomic force microscopy at MHz frequencies
Arnold, W.; Rabe, U.
Journal Article
1994Charakterisierung ultrapräzisionsbearbeiteter Materialien mittels Rastersonden-Mikroskopie
Rabe, U.; Arnold, W.; Scherer, V.; Riemer, O.; Preuß, W.; Brinksmeier, E.
Conference Paper
1994Charakterisierung ultrapräzisionsbearbeiteter Materialien mittels Rastersonden-Mikroskopie (ASPE)
Rabe, U.; Arnold, W.; Scherer, V.; Fechner, R.; Schindler, A.; Riemer, O.; Preuß, W.; Brinksmeier, E.
Conference Paper
1994Generic detrending of surface profiles
Duparre, A.; Rothe, H.; Jakobs, S.
Journal Article
1994Herstellung und Eigenschaften von PZT-Dickschichten
Seffner, L.; Fischer, K.; Häßler, W.; Gesemann, H.J.
Conference Paper
1994Investigation of heteroepitaxial diamond films by scanning tunneling and atomic force microscopy
Jiang, X.; Schiffmann, K.I.
Journal Article
1994Roughness and scattering measurements on thin films for UV/VIS applications
Duparre, A.; Kiesel, A.; Kaiser, N.; Truckenbrodt, H.; Schuhmann, U.
Conference Paper