Fraunhofer-Gesellschaft

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Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2019Quick roughness evaluation of cut edges using a convolutional neural network
Stahl, Janek; Jauch, Christian
Conference Paper
2018Nano-Design für Makroschichten. Anwendungsperspektiven für PVD-Beschichtungen bis 100 μm Dicke
Krülle, Tim; Kaulfuß, Frank; Zimmer, Otmar; Leyens, Christoph
Journal Article, Conference Paper
2017Charakterisierungsmethoden zur Bestimmung der Dispersionsqualität
Lee, Daniel
Conference Paper
2009Kieferorthopädische Apparaturen und Knirscherschienen schonend reinigen
Gonser, F.; Kiesow, A.
Journal Article
2008Bewertung durch Zahnbürstenreinigung hervorgerufener Oberflächenveränderungen bei Prothesenkunststoffen
Gonser, F.; Kiesow, K.; Sarembe, S.; Petzold, M.
Journal Article
2004Einfluss der Schichtdecke und der Oberflächentopographie auf die Lebensdauer von DLC-Schichten im Wälzkontakt - Simulation und Experiment
Blug, B.; Meier, S.; Pfeiffer, W.; Hollstein, T.
Conference Paper
2004Kleben von Glas an Formenwerkstoffen-Prüfapparatur und Prüfmethode
Manns, P.; Rieser, D.; Spieß, G.; Kleer, G.
Conference Paper
2003Prüfungsverfahren für Werkstoffe zur Formgebung von Glasschmelzen
Manns, P.; Rieser, D.; Spieß, G.; Kolloff, R.; Döll, W.
Report
2003Untersuchungen zum Klebe- und Abriebverhalten von Formenwerkstoffen und Beschichtungen unter Einsatzbedingungen der Heißformgebung
Rieser, D.; Manns, P.; Spieß, G.; Kleer, G.
Conference Paper
1999Nicht alles, was glänzt, ist goldwert. Gesteigerte Wirtschaftlichkeit und Qualität durch optimierten Polierprozeß
Hambücker, S.
Journal Article
1998AFM and light scattering measurements of optical thin films for applications in the UV spectral region
Jakobs, S.; Duparre, A.; Truckenbrodt, H.
Journal Article
1998Interfacial roughness and related scatter in UV-optical coatings
Jacobs, S.; Duparre, A.; Truckenbrodt, H.
Journal Article
1997Characterization of SiO2 protective coatings on polycarbonate
Jakobs, S.; Schulz, U.; Duparre, A.; Kaiser, N.
Journal Article
1997Concepts for standardization of total scatter measurements at 633 nm
Kadkhoda, M.; Strink, P.; Ristau, D.; Duparre, A.; Gliech, S.; Reng, N.; Greif, M.; Schuhmann, R.; Goldner, M.
Conference Paper
1997Non-contact testing of optical surfaces by multiple-wavelength light scattering measurement
Duparre, A.; Gliech, S.
Conference Paper
1997Quality assessment from supersmooth to rough surfaces by multiple-wavelength light scattering measurement
Duparre, A.; Gliech, S.
Conference Paper
1996Analysis of interface and volume inhomogenities in a multilayer system by light scattering methods
Pichlmaier, S.; Hehl, K.; Schuhmann, U.; Duparre, A.; Gliech, S.
Conference Paper
1996Apparatus for measuring integrated light scattering of optical components over an extended range of wavelengths
Duparre, A.; Gliech, S.
Conference Paper
1996Combination of surface characterization techniques for investigating optical thin-film components
Duparre, A.; Jakobs, S.
Journal Article
1996Dependence of the surface morphology and scattering of optical coatings on film material, substrate roughness, and deposition process
Jakobs, S.; Feigl, T.; Duparre, A.
Conference Paper
1996Optical scattering and surface microstructure of thin films for laser application
Duparre, A.; Kiesel, A.; Gliech, S.
Journal Article
1996Roughness analysis of optical films and substrates by atomic force microscopy
Duparre, A.; Ruppe, C.
Journal Article
1995Light scattering of thin dielectric films
Duparre, A.
Book Article
1994Interface and volume inhomogenities in optical thin films investigated by light scattering methods
Duparre, A.; Gliech, S.; Hehl, K.; Pichlmaier, U.; Schuhmann, U.
Conference Paper
1994Roughness and scattering measurements on thin films for UV/VIS applications
Duparre, A.; Kiesel, A.; Kaiser, N.; Truckenbrodt, H.; Schuhmann, U.
Conference Paper
1993Real-time detection of surface damage by direct assessment of the BRDF
Rothe, H.; Duparre, A.; Truckenbrodt, H.; Timm, M.
Conference Paper
1992Light scattering from the volume of optical thin films: theory and experiment
Duparre, A.; Kassam, S.; Hehl, K.; Bussemer, P.; Neubert, J.
Journal Article
1992Roughness and defect characterization of optical surfaces by light scattering measurements
Truckenbrodt, H.; Duparre, A.; Schuhmann, U.
Conference Paper
1990Interferometrische Verfahren zur Rauhheitsmessung
Broermann, E.; Pfeifer, T.
Journal Article