Fraunhofer-Gesellschaft

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2014Influence of surface states on the voltage robustness of AlGaN/GaN HFET power devices
Wespel, M.; Dammann, M.; Baeumler, M.; Polyakov, V.M.; Reiner, R.; Waltereit, P.; Quay, R.; Mikulla, M.; Ambacher, O.
Conference Paper
2014Influence of surface states on the voltage robustness of AlGaN/GaN HFET power devices
Wespel, M.; Baeumler, M.; Polyakov, V.; Dammann, M.; Reiner, R.; Waltereit, P.; Quay, R.; Mikulla, M.; Ambacher, O.
Journal Article