Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2020Consolidation Behavior of Fiber Steered Thermoplastic Automated Fiber Placement Preforms
Zenker, Thomas; Gnädinger, Michael
Presentation
2016Zerstörungsfreie Materialcharakterisierung und Fehlerprüfung von Gusskomponenten
Veile, Ines; Tschuncky, Ralf; Bruche, Dietmar; Kopp, Melanie; Szielasko, Klaus
Journal Article
2015Characterization and modelling of the boron-oxygen defect activation in compensated n-type silicon
Schön, J.; Niewelt, T.; Broisch, J.; Warta, W.; Schubert, M.C.
Journal Article
2011Analysis of defect mechanisms in polishing of tool steels
Klocke, Fritz; Dambon, Olaf; Behrens, Barbara
Journal Article
2011Cu substitutionals and defect complexes in the lead-free ferroelectric knn
Kröbel, S.; Elsässer, C.
Conference Paper
2008Experimental evidence of different hydrogen donors in n-type InN
Pettinari, G.; Masia, F.; Capizzi, M.; Polimeni, A.; Losurdo, M.; Bruno, G.; Kim, T.H.; Choi, S.; Brown, A.; Lebedev, V.; Cimalla, V.; Ambacher, O.
Journal Article
2008Nano-Röntgentomographie für Prozesskontrolle und Fehleranalyse in der Halbleiterindustrie
Braun, S.; Zschech, E.; Yun, W.
Conference Paper
2007Defectengineering an einer OLED-Beschichtungsanlage
Heintzel, I.
Thesis
2006Leitfaden zur Inspektion von Oberflächen mit Bildverarbeitung
: Bauer, N.
Scientific Anthology
2005High temperature infrared absorption of CVD diamond measured by laser calorimetry
Wörner, E.; Wild, C.; Müller-Sebert, W.; Grimm, M.; Koidl, P.
Journal Article
2002Review on the non-destructive characterization and application of doped and undoped polycrystalline diamond films
Werner, M.; Köhler, T.; Mietke, S.; Wörner, E.; Johnston, C.; Fecht, H.-J.
Conference Paper
1999On the nature of grain boundary defects in high quality CVD diamond films and their influence on physical properties
Steeds, J.W.; Gilmore, A.; Bussmann, K.M.; Butler, J.E.; Koidl, P.
Journal Article
1998Carrier trapping and release in CVD-diamond films
Nebel, C.E.; Stutzmann, M.; Lacher, F.; Koidl, P.; Zachai, R.
Journal Article
1997Spektroskopische Photolumineszenz-Topographie von Defektstrukturen in Verbindungshalbleitern
Fitz, C.,
Thesis
1995Untersuchung von Defekten in Verbindungshalbleitern mit abbildenden Photolumineszenzverfahren
Forker, J.
Thesis
1989Physikalische und materielle Erhaltungssätze der Elastizitätstheorie
Kienzler, R.
Journal Article
1988Mögliche Fehler vorausberechnen - Ausfallabsicherung und Funktionskontrolle für IC's
Faul, R.
Journal Article
1983Endor investigation of Ni 3+ in GaP
Schneider, J.; Ueda, Y.; Niklas, J.R.; Spaeth, J.M.; Kaufmann, U.
Journal Article
1983A study of the 0.1-eV conversion acceptor in GaAs
Look, D.C.; Pomrenke, G.S.
Journal Article