Fraunhofer IOF

YearTitle/AuthorDocument Type
1992Formvermessung mit Höhenschichtlinien
Gerber, J.; Kowarschik, R.; Notni, G.; Schreiber, W.
Conference Paper
1992Light scattering from the volume of optical thin films: theory and experiment
Duparre, A.; Kassam, S.; Hehl, K.; Bussemer, P.; Neubert, J.
Journal Article
1992Optisches Bauteil
Guyenot, V.; Paliege, R.; Staupendahl, G.
Patent
Fulltext
1992Randschwarzes Optikteil
Eberhardt, V.; Prunkel, M.; Weber, C.; Guyenot, V.; Guyenot, M.
Patent
Fulltext
1992Roughness and defect characterization of optical surfaces by light scattering measurements
Truckenbrodt, H.; Duparre, A.; Schuhmann, U.
Conference Paper
1992Structure of thin fluoride films deposited on amorphous substrates
Kaiser, N.; Kaiser, U.; Weißbrodt, P.; Mademann, U.; Hacker, E.; Müller, H.
Journal Article
1992Vergleich fraktaler Parameter von Rauheitsmessungen an glatten Oberflächen mit profilometrischen und Streulichtmessungen
Neubert, J.; Truckenbrodt, H.; Usbeck, K.; Harnisch, B.
Conference Paper