| Year | Title/Author | Document Type |
|---|---|---|
| 1992 | Formvermessung mit Höhenschichtlinien
Gerber, J.; Kowarschik, R.; Notni, G.; Schreiber, W. | Conference Paper |
| 1992 | Light scattering from the volume of optical thin films: theory and experiment
Duparre, A.; Kassam, S.; Hehl, K.; Bussemer, P.; Neubert, J. | Journal Article |
| 1992 | Optisches Bauteil
Guyenot, V.; Paliege, R.; Staupendahl, G. | Patent Fulltext |
| 1992 | Randschwarzes Optikteil
Eberhardt, V.; Prunkel, M.; Weber, C.; Guyenot, V.; Guyenot, M. | Patent Fulltext |
| 1992 | Roughness and defect characterization of optical surfaces by light scattering measurements
Truckenbrodt, H.; Duparre, A.; Schuhmann, U. | Conference Paper |
| 1992 | Structure of thin fluoride films deposited on amorphous substrates
Kaiser, N.; Kaiser, U.; Weißbrodt, P.; Mademann, U.; Hacker, E.; Müller, H. | Journal Article |
| 1992 | Vergleich fraktaler Parameter von Rauheitsmessungen an glatten Oberflächen mit profilometrischen und Streulichtmessungen
Neubert, J.; Truckenbrodt, H.; Usbeck, K.; Harnisch, B. | Conference Paper |