English
Deutsch
Log In
Password Login
or
Log in with Fraunhofer Smartcard
Research Outputs
Projects
Researchers
Institutes
Statistics
Fraunhofer-Gesellschaft
Home
Fraunhofer-Gesellschaft
Hauptwerk
Zuverlässigkeit und Entwurf. 6. GMM/GI/ITG-Fachtagung 2012. CD-ROM
Information
Publications
Export
Statistics
Options
Title
Zuverlässigkeit und Entwurf. 6. GMM/GI/ITG-Fachtagung 2012. CD-ROM
Titel Supplements
25. bis 27. September 2012 in Bremen
Institut
VDE/VDI-Gesellschaft Mikroelektronik, Mikro- und Feinwerktechnik -GMM-
Gesellschaft für Informatik -GI-, Bonn
Informationstechnische Gesellschaft -ITG-
Verlag
VDE-Verlag
Verlagsort
Berlin
Offenbach
Datum
2012
Serie
GMM-Fachbericht
Konferenz
Fachtagung Zuverlässigkeit und Entwurf 2012