Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.

A charge compensation method for measuring passivated devices with high extraction voltage

 
: Lackmann, R.; Weichert, G.

Microelectronic engineering 16 (1991), Nr.1, S.431-438
ISSN: 0167-9317
European Conference on Electron and Optical Beam Testing of Integrated Circuits <3, 1991, Como>
Englisch
Konferenzbeitrag
Fraunhofer IMS ()

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/PX-7624.html