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Title
Verfahren und Vorrichtung zum Charakterisieren einer Oberflaeche und Verfahren und Vorrichtung zur Ermittlung einer Formanomalie einer Oberflaeche
Date Issued
2005
Author(s)
Hassler, U.
Schmitt, P.
Kostka, G.
Patent No
2000-10062254
Abstract
Bei einem Verfahren zum Charakterisieren einer Oberflaeche, die eine oertlich begrenzte Unebenheit aufweist, wird zunaechst eine Hoehenlinie der Oberflaeche als Funktion einer Ortsvariablen erzeugt. Anschliessend wird die oertlich begrenzte Unebenheit in der Hoehenlinie detektiert und aus der Hoehenlinie eliminiert, so dass sich eine lueckenhafte Hoehenlinie als Funktion der Ortsvariablen ergibt, die die Oberflaeche ohne die oertlich begrenzte Unebenheit charakterisiert. Die lueckenhafte Hoehenlinie kann verwendet werden, um entweder die Oberflaeche ohne oertlich begrenzte Unebenheiten beurteilen zu koennen, um beispielsweise den Seiten- oder Hoehenschlag eines Reifens zu bestimmen, wenn die Oberflaeche eine Seitenflanke bzw. eine Laufflaeche eines Fahrzeugreifens ist, oder um die oertlich begrenzten Unebenheiten ohne Einfluss der Oberflaeche zu klassifizieren.
WO 200248648 A UPAB: 20021120 NOVELTY - Process for non-contact tire measurement produces a contour line of the surface, as a function of a position co-ordinate. Localized irregularities in the contour line are detected and eliminated. The result is a contour line with gaps as a function of the position variable, which characterizes the surface without the irregularity. DETAILED DESCRIPTION - An INDEPENDENT CLAIM is included for corresponding equipment. USE - To measure and characterize positive or negative, localized irregularities in surfaces, especially tire surfaces, e.g. the sidewalls. ADVANTAGE - Surfaces including local irregularities are reliably characterized. The irregularities are eliminated from consideration in this characterization. Both the irregularities and the surface can be characterized for separate consideration in three dimensions. Intentional reliefs (markings) and irregularities, various defects, recesses and bulges are identified and located.
Language
de
Patenprio
DE 2000-10062254 A: 20001214