English
Deutsch
Log In
Password Login
or
Log in with Fraunhofer Smartcard
Research Outputs
Projects
Researchers
Institutes
Statistics
Fraunhofer-Gesellschaft
Home
Fraunhofer-Gesellschaft
Buch
Untersuchung und Entwicklung der CMOS-Technologie auf vergrabenem Isolator als einer neuen VLSI-Technologie. Berichtszeitraum 01.07.1987 - 31.09.1990. BMFT-Abschlußbericht 110620
Details
Full
Export
Statistics
Options
1990
Book
Titel
Untersuchung und Entwicklung der CMOS-Technologie auf vergrabenem Isolator als einer neuen VLSI-Technologie. Berichtszeitraum 01.07.1987 - 31.09.1990. BMFT-Abschlußbericht 110620
Author(s)
Abel, H.B.
Gassel, H.
Belz, J.
Burbach, G.
Vogt, Holger
Debusmann, K.
Peter-Weidemann, J.
Redlich, S.
Götzen, R.
Language
German
google-scholar
View Details
Fraunhofer-Institut für Mikroelektronische Schaltungen und Systeme IMS
Tags
latch-up
SIMOX
SOI-Technologie
vergrabener Isolator