Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

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Elektro-optischer Test hochintegrierter CMOS-Schaltungen

 
: Fritz, J.

Heidelberg: Hüthig, 1990, 228 S. : Abb.
Zugl.: Duisburg, Univ., Diss., 1990
Mikroelektronik, 7
ISBN: 3-7785-1994-8
Deutsch
Dissertation
Fraunhofer IMS ()
CMOS-Schaltung; Elektrooptik; Laserscan-Mikroskop; OPIC-Effekt; Physikalischer Effekt; Pockels-Effekt

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/PX-46234.html