Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

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Defektspektroskopie an Halbleitern mit hohem Bandabstand - GaN, SiC, Diamant

 
: Maier, K.

Freiburg/Brsg., 1994, 154 S.
Freiburg/Brsg., Univ., Diss., 1994
Deutsch
Dissertation
Fraunhofer IAF ()
Diamant; ESR; GaN; Photolumineszenz; SiC

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/PX-45379.html