Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

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Application of the bragg-profiling technique to the analysis of metallurical and optical surface layers

 
: Eichinger, P.; Leutenecker, R.; Qiong, L.

Nuclear instruments and methods in physics research 218 (1983), S.489-492 : Abb.,Lit.
ISSN: 0029-554X
Englisch
Zeitschriftenaufsatz
Fraunhofer IFT; 2000 dem IZM eingegliedert
Bragg-Methode; Rückstreuanalsyse; Schicht(dünn)

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/PX-4408.html