Bei einer Vorrichtung zur optischen Inspektion von bewegten Materialoberflaechen (4) wird ein Abtastfleck (3) quer zur Materialbewegungsrichtung entlang einer Abtastlinie bewegt. Das beim Ueberstreichen der Materialoberflaeche (4) reflektierte Licht gelangt zu Detektoren (18, 21), die beidseitig der zu inspizierenden Materialoberflaeche (4) auf einer gemeinsamen optischen Achse (17) angeordnet sind, die mit der Abtastlinie auf der Materialoberflaeche (4) fluchtet.