Fraunhofer-Gesellschaft

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Verfahren zur Schichtdickenmessung von elektrisch nicht leitenden Schichten auf elektrisch leitenden Material nach dem Wirbelstromverfahren

Process for the measurement of the thickness of electrically non-conducting layers on electrically conducting material using the eddy-current process
 
: Becker, R.; Betzold, K.; Regneri, L.; Rodner, C.

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DE 1979-2923066 A: 19790607
DE 1979-2923066 A: 19790607
DE 2923066 C3: 19820114
G01B0007
Deutsch
Patent, Elektronische Publikation
Fraunhofer IZFP ()

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/PX-39511.html