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Verfahren der Konturanalyse für die Qualitätsprüfung mit optoelektronischen Sensoren

 
: Rauh, W.; Kille, K.

VDI/VDE-Gesellschaft Meß- und Automatisierungstechnik -GMA-, Düsseldorf:
Fertigungsmeßtechnik und Qualitätssicherung. Fachkongreß MICROTECNIC '94
Düsseldorf: VDI-Verlag, 1994 (VDI-Berichte 1155)
ISBN: 3-18-091155-7
S.55-61
MICROTECNIC <1994, Zürich>
Deutsch
Konferenzbeitrag
Fraunhofer IPA ()
Fertigungsmeßtechnik; Kontur; Konturanalyse; Messen; Optoelektronik; Optoelektronischer sensor; Qualitätsprüfung; sensor

Abstract
Die Qualitätsprüfung mit Hilfe optoelektronischer Sensoren beruht häufig auf einer Analyse der Werkstückkontur. In der Fertigungsmeßtechnik werden geometrische Merkmale durch Ausgleichsrechnungen über bestimmte Konturbereiche ermittelt, wobei die auszuwertenden Bereiche im Teach-In jeweils interaktiv zu begrenzen sind. Im Bereich der Sichtprüfung gilt es häufig, lokale Fehlstellen in Konturen zu erkennen und zu quantifizieren, obwohl die Größe der Fehlstellen unterhalb der zulässigen Maßabweichungen der Werkstücke liegen. In dem vorliegenden Beitrag werden Verfahren der Konturanalyse vorgestellt, die die automatische Zerlegung beliebiger Konturen in regelgeometrische Formelemente sowie die Erkennung und geometrische Bewertung lokaler Fehlstellen in Konturen ermöglichen.

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/PX-38387.html