Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

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Stress in ion-exchanged glass-waveguides.

Mechanische Spannungen in ionenausgetauschten Glas-Wellenleitern
 
: Brandenburg, A.

Journal of Lightwave Technology 4 (1986), Nr.10, S.1580-1593 : Abb.,Tab.,Lit.
ISSN: 0733-8724
Englisch
Zeitschriftenaufsatz
Fraunhofer IPM ()
Ionenaustausch; Optik(integriert); Prismenkopplung; Spannung(mechanisch); Wellenleiter(doppelt gebrochen); WKB-Verfahren

Abstract
(Stress in film and stripe waveguides, formed by ion exchange in glass, is investigated. Mechanical effects of stress, like surfache damage and elevations or dips of the surface, are demonstrated. The birefringence due to stress can be varied over a wide range by varying the ion-exchange conditions. -IPM-)

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/PX-35052.html