Fraunhofer-Gesellschaft

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AEM-Untersuchungen an Grenzschichten in elektrisch leitfähigen Klebverbindungen

 
: Schäfer, H.; Gesang, T.; Hennemann, O.-D.; Eys, H. von

Deutscher Verband für Schweißtechnik e.V. -DVS-, Düsseldorf:
Verbindungstechnik in der Elektronik. Vorträge und Poster-Beiträge des 6. Internationalen Kolloquiums
Düsseldorf: DVS-Verlag, 1992 (DVS Berichte 141)
ISBN: 3-87155-446-4
S.134-140
Internationales Kolloquium "Verbindungstechnik in der Elektronik" <6, 1992, Fellbach>
Deutsch
Konferenzbeitrag
Fraunhofer IFAM ()
elektrische Leitfähigkeit; Elektronenmikroskopie; Klebtechnik; Langzeitbeständigkeit; Mikroelektronik

Abstract
Increasingly adhesive joining is used to electrically conductive mount SMDs. The long term stability of the adhesive joint is of particular importance. Only the long term stability of adhesive and functional properties of the joint ensures that the assembly performs up to specification. The transition region adhesive-adherent is the crucial factor in determining the long term properties of the joint. Analytical Electron Microscopy (AEM) is a suitable means to investigate this transition region and to contribute to the evaluation of failure mechanisms of assemblies used in the field.

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/PX-3386.html