Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

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Raman scattering of amorphous carbon/semiconductor interface layers.

Ramanstreuung an Grenzflächen zwischen amorphen Kohlenstoffschichten und Halbleitern
 
: Koidl, P.; Ramsteiner, M.; Wagner, J.; Wild, C.

Solid State Communications 67 (1988), Nr.1, S.15-18 : Abb.,Lit.
ISSN: 0038-1098
Englisch
Zeitschriftenaufsatz
Fraunhofer IAF ()
amorphe Kohlenstoffschicht; Grenzfläche; Ramanstreuung

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/PX-30780.html